全球电离层地图TEC数据的插值算法

由IGS工作组提供的全球电离层地图(GIM)是电离层重要的应用数据.卫星高度计能够提供全球实时的电离层延迟误差校正.利用GIM数据,以Jason-3时空分辨率进行电离层总电子含量(TEC)的时间维度插值和空间维度插值,其中空间维度插值采用了 Kriging插值和双线性插值两种方法.针对两种插值方法得到的总电子含量,与平滑处理的Jason-3高度计cycle80双频延迟校正值转化的总电子含量进行对比分析.结果显示:其与Kriging插值的平均偏差为0.94TECU,均方根误差为2.73 TECU,相关系数为0.91;与双线性插值的平均偏差为1.43 TECU,均方根误差为6.85 TECU,相关系数为0.61.这说明Kriging插值方法的精度明显高于双线性插值方法.

三维成像微波高度计对流层延迟估计模型研究

对流层延迟是引起高度计高程测量误差的重要来源,三维成像微波高度计(InIRA)相对于传统剖面高度计有着更大的天线视角范围,不能直接沿用其对流层延迟估计方法。文中以Sentinel-3A数据为基准,对常用的垂向对流层延迟估计模型进行对比筛选,并将筛选出来的模型进行适用于InIRA的改进,并结合第三方气象数据计算出改进后的模型结果并分析天线视角对干、湿对流层延迟估计值的影响。结果表明:干对流层延迟估计值受天线视角的影响较为明显,湿对流层延迟估计值受天线视角的影响较小。