期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
等离子体刻蚀提纯冶金硅研究
1
作者
尹盛
曹伯承
+1 位作者
赵亮
王敬义
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第3期400-402,共3页
通过自行设计的冷等离子体粉粒纯化系统,将硅粉撒进辉光放电区,以Ar气为反应气体,利用鞘层区域辉光放电的冷等离子体对硅粉料的作用,进行一系列的处理后,硅粉表面形貌平整度明显提高,纯度从98.75%提高到99.56%。在此基础上,设计射频感...
通过自行设计的冷等离子体粉粒纯化系统,将硅粉撒进辉光放电区,以Ar气为反应气体,利用鞘层区域辉光放电的冷等离子体对硅粉料的作用,进行一系列的处理后,硅粉表面形貌平整度明显提高,纯度从98.75%提高到99.56%。在此基础上,设计射频感应放电等离子体的振动倾斜反应室,经实验,将硅粉纯度提高到99.96%,接近太阳级硅的要求,也为该研究未来的发展提供了新的思路和理论参考。
展开更多
关键词
冷等离子体
冶金级硅
刻蚀
射频
下载PDF
职称材料
直流偏场下BST电性能计算机测试系统
2
作者
孔宁
林晓牧
+3 位作者
马韬
曹伯承
金学淼
姜胜林
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第1期89-93,共5页
针对BaxSr1-xTiO3(BST,钛酸锶钡)材料在直流偏场下的电性能的变化,设计出一种直流偏场下BST电性能参数计算机测试系统。该系统测试结果通过串口输入计算机,通过LabVIEW编写的虚拟仪器程序实时处理与显示材料在不同偏压下的介电常数...
针对BaxSr1-xTiO3(BST,钛酸锶钡)材料在直流偏场下的电性能的变化,设计出一种直流偏场下BST电性能参数计算机测试系统。该系统测试结果通过串口输入计算机,通过LabVIEW编写的虚拟仪器程序实时处理与显示材料在不同偏压下的介电常数-温度曲线与损耗曲线,从中引申出了一种外加直流偏场下热释电系数的测试方法。利用该系统在25~70℃,200V与400V偏压下,对BST样片进行了测量,得到了相关曲线与数据,其中400V下材料相对介电常数峰值与热释电系数峰值在42.2℃达到6795.51与1.17×10^-7C/cm^2·K,测量结果对于研究BST材料的红外探测性能具有现实意义。
展开更多
关键词
BST
直流偏场
计算机测试系统
LABVIEW
下载PDF
职称材料
题名
等离子体刻蚀提纯冶金硅研究
1
作者
尹盛
曹伯承
赵亮
王敬义
机构
华中科技大学电子科学与技术系
出处
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009年第3期400-402,共3页
基金
国家自然科学基金资助项目(10475029)
文摘
通过自行设计的冷等离子体粉粒纯化系统,将硅粉撒进辉光放电区,以Ar气为反应气体,利用鞘层区域辉光放电的冷等离子体对硅粉料的作用,进行一系列的处理后,硅粉表面形貌平整度明显提高,纯度从98.75%提高到99.56%。在此基础上,设计射频感应放电等离子体的振动倾斜反应室,经实验,将硅粉纯度提高到99.96%,接近太阳级硅的要求,也为该研究未来的发展提供了新的思路和理论参考。
关键词
冷等离子体
冶金级硅
刻蚀
射频
Keywords
cold plasma
metallurgical grade silicon
etching
RF
分类号
TN304.051 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
直流偏场下BST电性能计算机测试系统
2
作者
孔宁
林晓牧
马韬
曹伯承
金学淼
姜胜林
机构
华中科技大学电子科学与技术系
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008年第1期89-93,共5页
基金
新世纪优秀人才支持计划(NCET-04-0703)
湖北省青年杰出人才基金(2006ABB018)资助项目
文摘
针对BaxSr1-xTiO3(BST,钛酸锶钡)材料在直流偏场下的电性能的变化,设计出一种直流偏场下BST电性能参数计算机测试系统。该系统测试结果通过串口输入计算机,通过LabVIEW编写的虚拟仪器程序实时处理与显示材料在不同偏压下的介电常数-温度曲线与损耗曲线,从中引申出了一种外加直流偏场下热释电系数的测试方法。利用该系统在25~70℃,200V与400V偏压下,对BST样片进行了测量,得到了相关曲线与数据,其中400V下材料相对介电常数峰值与热释电系数峰值在42.2℃达到6795.51与1.17×10^-7C/cm^2·K,测量结果对于研究BST材料的红外探测性能具有现实意义。
关键词
BST
直流偏场
计算机测试系统
LABVIEW
Keywords
BST
DC bias field
computer test system
LabVIEW
分类号
TP391.76 [自动化与计算机技术—计算机应用技术]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
等离子体刻蚀提纯冶金硅研究
尹盛
曹伯承
赵亮
王敬义
《功能材料》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2009
0
下载PDF
职称材料
2
直流偏场下BST电性能计算机测试系统
孔宁
林晓牧
马韬
曹伯承
金学淼
姜胜林
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2008
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部