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分子束外延低温生长GaAs缓冲层
1
作者
张允强
彭正夫
+2 位作者
高翔
曹苏榕
孙娟
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第4期379-380,共2页
在低的衬底温度(约300℃)下生长的GaAs层具有较高的电阻率,较小的光敏特性。低温生长的GaAs层用于MESFET作缓冲层,能够消除背栅效应,改善光敏特性等。国外研究结果表明,低温GaAs缓冲层为富砷结。 用国产MBE—Ⅲ型分子束外延设备进行低...
在低的衬底温度(约300℃)下生长的GaAs层具有较高的电阻率,较小的光敏特性。低温生长的GaAs层用于MESFET作缓冲层,能够消除背栅效应,改善光敏特性等。国外研究结果表明,低温GaAs缓冲层为富砷结。 用国产MBE—Ⅲ型分子束外延设备进行低温生长GaAs层的研究。半绝缘GaAs衬底温度约580℃,生长约50nm GaAs层。反射高能电子衍射(RHEED)的衍射图样为(2×4)结构。
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关键词
分子束外延
生长
砷化镓
缓冲层
下载PDF
职称材料
完善强制性认证监管制度
2
作者
曹苏榕
惠敢
《中国检验检疫》
2006年第9期23-24,共2页
关键词
强制性认证
强制性产品认证制度
监管制度
市场经济发展
3C认证
管理委员会
社会主义
认证机构
下载PDF
职称材料
题名
分子束外延低温生长GaAs缓冲层
1
作者
张允强
彭正夫
高翔
曹苏榕
孙娟
机构
南京电子器件研究所
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1992年第4期379-380,共2页
文摘
在低的衬底温度(约300℃)下生长的GaAs层具有较高的电阻率,较小的光敏特性。低温生长的GaAs层用于MESFET作缓冲层,能够消除背栅效应,改善光敏特性等。国外研究结果表明,低温GaAs缓冲层为富砷结。 用国产MBE—Ⅲ型分子束外延设备进行低温生长GaAs层的研究。半绝缘GaAs衬底温度约580℃,生长约50nm GaAs层。反射高能电子衍射(RHEED)的衍射图样为(2×4)结构。
关键词
分子束外延
生长
砷化镓
缓冲层
分类号
TN304.054 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
完善强制性认证监管制度
2
作者
曹苏榕
惠敢
出处
《中国检验检疫》
2006年第9期23-24,共2页
关键词
强制性认证
强制性产品认证制度
监管制度
市场经济发展
3C认证
管理委员会
社会主义
认证机构
分类号
F203 [经济管理—国民经济]
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职称材料
题名
作者
出处
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被引量
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1
分子束外延低温生长GaAs缓冲层
张允强
彭正夫
高翔
曹苏榕
孙娟
《固体电子学研究与进展》
CAS
CSCD
北大核心
1992
0
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职称材料
2
完善强制性认证监管制度
曹苏榕
惠敢
《中国检验检疫》
2006
0
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职称材料
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