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高能电子照射对金刚石中缺陷电荷状态的影响 被引量：2
1
作者 田玉明 王凯悦 +4 位作者 李志宏 朱玉梅 柴跃生 曾雨顺 王强 《物理学报》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2013年第18期438-442,共5页
金刚石经电子辐照后会形成大量的点缺陷,而这些缺陷很多都是带有电荷的.提出一种用于研究缺陷电荷状态的新思路,即利用扫描电子显微镜(SEM)的高能电子照射辐照区域,通过比较SEM照射前后的低温光致发光光谱,为缺陷电荷状态的确定提供了... 金刚石经电子辐照后会形成大量的点缺陷,而这些缺陷很多都是带有电荷的.提出一种用于研究缺陷电荷状态的新思路,即利用扫描电子显微镜(SEM)的高能电子照射辐照区域,通过比较SEM照射前后的低温光致发光光谱,为缺陷电荷状态的确定提供了一些依据. 展开更多
关键词 金刚石 点缺陷 电荷状态
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