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核电厂仪控系统中FPGA的形式验证方法及V&V技术
被引量:
1
1
作者
朱夕辉
《工业控制计算机》
2017年第10期84-85,87,共3页
对比分析了形式验证与传统的仿真验证的特点,并讨论了FPGA的形式验证方法的重要性,介绍了形式验证的三种不同方法——定理证明、模型检验、等价性证明。以核电厂仪控系统中使用的FPGA芯片的一些功能作为被测对象,并且针对这些功能,选取M...
对比分析了形式验证与传统的仿真验证的特点,并讨论了FPGA的形式验证方法的重要性,介绍了形式验证的三种不同方法——定理证明、模型检验、等价性证明。以核电厂仪控系统中使用的FPGA芯片的一些功能作为被测对象,并且针对这些功能,选取Mentor Graphics公司开发的Questa Formal作为形式验证工具,采用基于System Verilog断言的模型检验方法对该芯片相关功能进行了功能验证和时序验证。为核电厂仪控系统中的其他的功能芯片的验证提供了一些参考。
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关键词
现场可编程门阵列
形式验证
V&V技术
System
Verilog断言
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职称材料
核电仪控产品高加速老化试验技术对比研究
被引量:
1
2
作者
戴瑞东
朱夕辉
王南
《科技资讯》
2017年第36期40-41,共2页
高加速老化试验(HALT)因其可使产品可靠性得以快速增长等特点,成为近年来工业业内新可靠性标准的推荐技术之一。首先结合HALT相关标准修订历史,对比了标准间的关系和异同,接着结合目前核电仪控高可靠性产品需求的特点,对比分析了传统可...
高加速老化试验(HALT)因其可使产品可靠性得以快速增长等特点,成为近年来工业业内新可靠性标准的推荐技术之一。首先结合HALT相关标准修订历史,对比了标准间的关系和异同,接着结合目前核电仪控高可靠性产品需求的特点,对比分析了传统可靠性试验技术存在的不足和HALT技术的优势,最后进行了总结。相关内容可为HALT技术的选择和具体实施等活动提供参考。
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关键词
高加速老化试验
HALT
仪控
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职称材料
题名
核电厂仪控系统中FPGA的形式验证方法及V&V技术
被引量:
1
1
作者
朱夕辉
机构
国核自仪系统工程有限公司
出处
《工业控制计算机》
2017年第10期84-85,87,共3页
文摘
对比分析了形式验证与传统的仿真验证的特点,并讨论了FPGA的形式验证方法的重要性,介绍了形式验证的三种不同方法——定理证明、模型检验、等价性证明。以核电厂仪控系统中使用的FPGA芯片的一些功能作为被测对象,并且针对这些功能,选取Mentor Graphics公司开发的Questa Formal作为形式验证工具,采用基于System Verilog断言的模型检验方法对该芯片相关功能进行了功能验证和时序验证。为核电厂仪控系统中的其他的功能芯片的验证提供了一些参考。
关键词
现场可编程门阵列
形式验证
V&V技术
System
Verilog断言
Keywords
FPGA,formal verification,nuclear power plant instrumentation and control system,System Verilog Assertions
分类号
TM623 [电气工程—电力系统及自动化]
TN791 [电子电信—电路与系统]
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职称材料
题名
核电仪控产品高加速老化试验技术对比研究
被引量:
1
2
作者
戴瑞东
朱夕辉
王南
机构
国核自仪系统工程有限公司
出处
《科技资讯》
2017年第36期40-41,共2页
文摘
高加速老化试验(HALT)因其可使产品可靠性得以快速增长等特点,成为近年来工业业内新可靠性标准的推荐技术之一。首先结合HALT相关标准修订历史,对比了标准间的关系和异同,接着结合目前核电仪控高可靠性产品需求的特点,对比分析了传统可靠性试验技术存在的不足和HALT技术的优势,最后进行了总结。相关内容可为HALT技术的选择和具体实施等活动提供参考。
关键词
高加速老化试验
HALT
仪控
分类号
TL374 [核科学技术—核技术及应用]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
核电厂仪控系统中FPGA的形式验证方法及V&V技术
朱夕辉
《工业控制计算机》
2017
1
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职称材料
2
核电仪控产品高加速老化试验技术对比研究
戴瑞东
朱夕辉
王南
《科技资讯》
2017
1
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