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基于FPGA IP核的扫描式激光测径方法
1
作者
朱庆叶
赵光兴
《电子科技》
2013年第10期95-97,共3页
快速、精确地测量对激光测径技术具有重要意义,考虑到传统单片机检测速度慢、时耗开发大等问题,文中提出了一种基于FPGA IP核技术的扫描式激光测径系统的设计方案及实现方法。同时在Quartus II集成环境中进行了系统的综合、布局布线及...
快速、精确地测量对激光测径技术具有重要意义,考虑到传统单片机检测速度慢、时耗开发大等问题,文中提出了一种基于FPGA IP核技术的扫描式激光测径系统的设计方案及实现方法。同时在Quartus II集成环境中进行了系统的综合、布局布线及时序仿真。仿真结果验证构建有IP核的激光测径系统,运算速度快,测量数据精确、且便于升级。
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关键词
FPGA
扫描
激光测径
MCU软核
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职称材料
题名
基于FPGA IP核的扫描式激光测径方法
1
作者
朱庆叶
赵光兴
机构
安徽工业大学电气信息学院
出处
《电子科技》
2013年第10期95-97,共3页
文摘
快速、精确地测量对激光测径技术具有重要意义,考虑到传统单片机检测速度慢、时耗开发大等问题,文中提出了一种基于FPGA IP核技术的扫描式激光测径系统的设计方案及实现方法。同时在Quartus II集成环境中进行了系统的综合、布局布线及时序仿真。仿真结果验证构建有IP核的激光测径系统,运算速度快,测量数据精确、且便于升级。
关键词
FPGA
扫描
激光测径
MCU软核
Keywords
FPGA
scanning
laser-diameter measurement
MCU soft core
分类号
TP278 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
基于FPGA IP核的扫描式激光测径方法
朱庆叶
赵光兴
《电子科技》
2013
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