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钢中残量元素As、Sn、Sb的X射线荧光光谱分析 被引量:3
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作者 朱见英 沈炜 陈国兴 《光谱实验室》 CAS CSCD 1993年第5期50-51,28,共3页
本文介绍了用日本理学3530XRF光谱仪扫描道测定钢中痕量元素As、Sn、Sb。由于短波强大的背景破坏了检测线的线性,通过用DATAFLEX 181B背景扣除的数据处理,消除了这些影响,成功地校准了曲线。方法简单;快速;XRFS结果与化学分析一致,该法... 本文介绍了用日本理学3530XRF光谱仪扫描道测定钢中痕量元素As、Sn、Sb。由于短波强大的背景破坏了检测线的线性,通过用DATAFLEX 181B背景扣除的数据处理,消除了这些影响,成功地校准了曲线。方法简单;快速;XRFS结果与化学分析一致,该法已用于炼钢的过程控制和原材料分析。 展开更多
关键词 X射线 荧光光谱分析
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单背景扣除法测定钢中痕量钴 被引量:2
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作者 朱见英 《冶金分析》 CAS CSCD 北大核心 1992年第5期49-50,共2页
核电设备用钢(中低合金钢)中含钴量不得超过0.02%,要求测定钢中残钴。本文介绍使用3530多道X射线荧光光谱仪测定钢中的残钴。 3530仪器是固定通道荧光仪,由于我们无钴的通道,因此通过扫描道来进行。 我们利用“通道操作”中操作程序... 核电设备用钢(中低合金钢)中含钴量不得超过0.02%,要求测定钢中残钴。本文介绍使用3530多道X射线荧光光谱仪测定钢中的残钴。 3530仪器是固定通道荧光仪,由于我们无钴的通道,因此通过扫描道来进行。 我们利用“通道操作”中操作程序和记录仪,选择钴的分析线,绘制分析线强度分布图,和校正扫描道的2θ角。实验时发现Co小于0.01%时,标准分析点离散,线性差,无法获得良好的检量线,分析残钴有困难。检量线线性差的原因可能由于背景所致。 展开更多
关键词 XRFA法 痕量分析
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3530型X射线荧光光谱仪主机背景扣除方法 被引量:1
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作者 朱见英 《分析测试仪器通讯》 1994年第3期30-31,共2页
文章讨论了在没有处理机DATA FLEX 181B的情况下,3530型X射线荧光光谱仪主机背景扣除方法。用于实际样品分析,其结果与化学值吻合较好。
关键词 荧光光谱仪 背景扣除法 数据处理
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碳钢合金钢及炉渣的X荧光光谱现场分析 被引量:2
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作者 孙世清 朱见英 《理化检验(化学分册)》 CAS CSCD 北大核心 1992年第5期300-301,317,共3页
3530多道X射线荧光光谱分析仪具有测试速度快,稳定、灵敏,高效分析特点,尤其适合大量试样的现场冶炼分析。为了使该台仪器能"随机"地对几种不同试样作X射线荧光分析,我们根据试样分析的要求,合理地编组,充分利用仪器的分析功... 3530多道X射线荧光光谱分析仪具有测试速度快,稳定、灵敏,高效分析特点,尤其适合大量试样的现场冶炼分析。为了使该台仪器能"随机"地对几种不同试样作X射线荧光分析,我们根据试样分析的要求,合理地编组,充分利用仪器的分析功能,以足够可靠的标样精确地制作检量线,进行基体校正,并结合人的判断和手工计算逐渐修正基体校正系数的方法,成功地实现了对我厂现有各类冶炼钢种和重熔炉渣的现场分析。方法精度、准确度和覆盖含量幅度都能使有关技术和生产部门满意。 1 现场分析要求我厂是大型铸锻件厂,冶炼钢种多,电渣炉还要求分析炉渣。表1、2列出了现场分析的元素和含量的要求。 展开更多
关键词 碳钢 合金钢 炉渣 X荧光光谱法
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