针对现有继电保护装置插件测试系统采样校准精度低、测试信息管理混乱等问题,通过对插件采样过程和应用方案进行研究,提出了利用辅助插件进行精度校准的解决方案。采用具有更高采样精度的插件作为辅助插件和待测插件,通过硬件秒脉冲(Pul...针对现有继电保护装置插件测试系统采样校准精度低、测试信息管理混乱等问题,通过对插件采样过程和应用方案进行研究,提出了利用辅助插件进行精度校准的解决方案。采用具有更高采样精度的插件作为辅助插件和待测插件,通过硬件秒脉冲(Pulse Per Second,PPS)对施加的外部标准源进行同步采样,并精确计算出待测插件的增益、角差和零漂系数。经测试、校准后的待测插件,精度满足继电保护应用要求,且具备开关量输入、输出及通信等接口测试功能。展开更多
文摘针对现有继电保护装置插件测试系统采样校准精度低、测试信息管理混乱等问题,通过对插件采样过程和应用方案进行研究,提出了利用辅助插件进行精度校准的解决方案。采用具有更高采样精度的插件作为辅助插件和待测插件,通过硬件秒脉冲(Pulse Per Second,PPS)对施加的外部标准源进行同步采样,并精确计算出待测插件的增益、角差和零漂系数。经测试、校准后的待测插件,精度满足继电保护应用要求,且具备开关量输入、输出及通信等接口测试功能。
文摘本文采用Stillinger-Weber势函数,对液态锗的快速凝固过程进行了分子动力学模拟,运用均方位移(mean square displacement,MSD),对相关函数(pair correlation function PCF),配位数(coordination number)和Wendt-Abraham关系式分析锗快速凝固过程中微观结构的变化。模拟得到液态锗的对相关函数和实验基本一致,说明Stillinger-Weber势准确反映了锗原子之间的受力情况,Stillinger-Weber势模拟锗的熔点在2100 K左右。冷却过程中,对相关函数第一峰随温度的降低而逐渐变尖锐,第二峰逐渐分裂为前低后高的两个次峰,由此表明快速凝固过程中得到的是非晶态锗。模拟结果表明,锗凝固的温度范围是1200-600 K,玻璃转化温度Tg为646 K.