交流电腐蚀方法制备STM探针

采用交流电化学腐蚀法来制备扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)所需要的钨(W)材料针尖,代替了传统的直流断落法,首先细致研究了电压、浸入深度、频率、反相电压、溶液浓度等参数对探针制备成功率的影响,其次根据实验结果确定了最佳参数值,在显微镜下观察了W针尖的形成过程,并且对实验制备的针尖进行优化处理,W针尖在STM下扫描Si(111)-7×7重构表面获得了原子分辨图像,该方法为针尖的制备提供了一条新的思路.