基于正交算法的车规级芯片耦合故障研究

从汽车芯片信息安全角度出发,由于汽车安全芯片工作主要受环境中的电磁、电压和光的影响,在阐明了电磁、电压和光对安全芯片的影响原理的基础上,综合考虑影响芯片工作的三种因素和因素间的相互作用,提出了多维组合的车规级安全芯片故障注入测试技术。以典型安全芯片为例,对其进行电磁操纵、电压操纵、光注入以及三者的组合注入,比较故障注入前后安全芯片加密解密得到的密文或明文,从而能够得出安全芯片的安全性结论。

智能驾驶人工智能芯片的计算性能测试研究

智能驾驶汽车发展迅速,对汽车人工智能(Artificial Intelligence,AI)芯片的计算性能要求持续提升,也引发了行业对于验证芯片计算性能是否满足实际应用需求的关注。然而,目前现有研究多为通用性计算性能测评方法,针对汽车领域应用的AI芯片计算性能有待研究。本文基于这一行业问题,对测试模型进行调研,提出了一套面向智能驾驶应用的AI芯片计算性能测试方法,并选取典型模型对实际产品进行测试,对比分析不同芯片各模型下的测试结果。本文研究内容对于汽车行业进行AI芯片选型也具备重要的参考价值。