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MCS—51系列单片机在X—A型反射率计中的应用
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作者 李有芝 《光学机械》 CSCD 1990年第3期56-61,共6页
本文介绍软X射线多层膜反射率计的工作原理,并着重介绍采用MCS—51系列单片机来完成数据采集、处理、控制和显示等功能的硬件结构特点和软件编程方法。最后给出实际测量数据与分析。
关键词 单片机 反射率计 应用 X-A型
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