基于定标的红外焦平面非均匀性校正算法研究

红外焦平面阵列普遍存在非均匀性,这会严重影响其成像质量。基于定标的非均匀性校正算法因其易于硬件实现,在工程应用中已被广泛采用。本文介绍了近年来基于定标的非均匀性校正算法的研究进展,对各种算法的优势及缺点进行了对比,并针对算法特点和工程需求做出了相应的分析。

红外焦平面阵列非均匀性多点校正

针对多点校正法硬件实现时存储参数过多的问题,提出了一种新的多点校正辐照度范围判定方法,有效地减少了数据存储量,降低了系统成本。仿真结果证明此方法可以得到与原方法相当的校正效果。