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介电可调薄膜材料及压控微波器件研究 被引量:2
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作者 蒋书文 李汝冠 +2 位作者 王鲁豫 刘兴钊 李言荣 《电子科技大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2009年第5期609-617,共9页
利用介电可调薄膜材料的调谐特性研制的介质压控微波器件高频特性好、功率容量大、响应速度快,还有易集成、功耗小、成本低、可靠性高的特点,相比半导体管、铁氧体以及MEMS器件有明显的优势。该文系统介绍了近年来国内外介电可调薄膜材... 利用介电可调薄膜材料的调谐特性研制的介质压控微波器件高频特性好、功率容量大、响应速度快,还有易集成、功耗小、成本低、可靠性高的特点,相比半导体管、铁氧体以及MEMS器件有明显的优势。该文系统介绍了近年来国内外介电可调薄膜材料及压控微波器件的研究进展,并结合作者的工作评述了介电可调薄膜材料和压控微波器件的应用情况。除研究最为集中的钛酸锶钡BaxSr1-xTiO3(BST)材料,还介绍了具有较高调谐率的铋基焦绿石铌酸铋镁Bi1.5MgNb1.5O7(BMN)薄膜材料,该材料介电损耗低(约0.002),介电常数适中(约86),温度系数小,是一种极具发展前景的微波介电可调材料。 展开更多
关键词 钛酸锶钡BST薄膜 铌酸铋镁BMN薄膜 介电可调薄膜材料 压控微波器件
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铋基焦绿石薄膜的湿法刻蚀方法研究
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作者 高莉彬 李汝冠 +1 位作者 蒋书文 李言荣 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2010年第8期499-502,共4页
介绍了一种能对铋基焦绿石薄膜进行湿法刻蚀的有效方法,研究了HF,NH4F和HNO3的水溶液对铌酸锌铋(Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7,BZN)和铌酸镁铋(Bi1.5MgNb1.5O7,BMN)两种铋基焦绿石薄膜的刻蚀情况。结果表明,刻蚀配比V(HF)∶m(NH4F)∶V(HNO3)∶V(H... 介绍了一种能对铋基焦绿石薄膜进行湿法刻蚀的有效方法,研究了HF,NH4F和HNO3的水溶液对铌酸锌铋(Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7,BZN)和铌酸镁铋(Bi1.5MgNb1.5O7,BMN)两种铋基焦绿石薄膜的刻蚀情况。结果表明,刻蚀配比V(HF)∶m(NH4F)∶V(HNO3)∶V(H2O)为10mL∶3g∶10mL∶10mL时,BZN和BMN薄膜能得到有效刻蚀,刻蚀速率分别为7nm/s和4nm/s,图形刻蚀精度高。最后讨论了该刻蚀液对铋基焦绿石薄膜的刻蚀机理,加入NH4F作为络合剂能避免刻蚀过程中三氟化铋BiF3难溶沉淀物的生成,加入HNO3作为助溶剂可以调节刻蚀速率,从而提高湿法刻蚀的图形精度。 展开更多
关键词 铋基焦绿石薄膜 湿法刻蚀 图形化 微波可调介质薄膜材料 刻蚀液
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GaN基HEMTs器件热测试技术与应用进展 被引量:11
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作者 李汝冠 廖雪阳 +2 位作者 尧彬 周斌 陈义强 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2017年第9期1-9,共9页
本文简述了半导体器件的温度测量方法,重点介绍了适用于氮化镓(Ga N)基高电子迁移率晶体管(HEMTs)器件的四种热测试技术及其在Ga N基HEMTs器件的应用情况。分析表明四种方法具有其各自的优劣之处:电学法虽然只能得到结区平均温度,但能... 本文简述了半导体器件的温度测量方法,重点介绍了适用于氮化镓(Ga N)基高电子迁移率晶体管(HEMTs)器件的四种热测试技术及其在Ga N基HEMTs器件的应用情况。分析表明四种方法具有其各自的优劣之处:电学法虽然只能得到结区平均温度,但能对器件进行直接测量而无需破坏封装;红外法虽然空间分辨率较低,但能简便得到器件温度分布图和进行器件的静态、动态测量;拉曼散射技术具有约1μm的高空间分辨率的优点,但需要逐点扫描、测量耗时长,适合于局部小范围的温度测量;热反射法具有亚微米量级的高空间分辨率,能简便得到器件温度分布图,十分适合用于Ga N基HEMTs器件的热测试中。最后指出先进的热反射法很可能成为Ga N基HEMTs器件热特性研究的发展方向。 展开更多
关键词 GaN 热测试 综述 电学法 红外辐射 拉曼散射 热反射
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基于结构函数的大功率整流管封装内部热阻分析 被引量:2
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作者 李汝冠 周斌 +2 位作者 许炜 曾畅 廖雪阳 《电子元件与材料》 CAS CSCD 2016年第1期40-43,67,共5页
在对大功率整流管(以下简称器件)进行瞬态热阻抗测试的基础上,基于结构函数分析技术建立器件由热阻、热容组成的RC热模型,并结合器件的封装结构对其内部热阻进行分析,得到了器件各层材料的内部热阻分别为:芯片0.12℃/W、焊接层0.18℃/W... 在对大功率整流管(以下简称器件)进行瞬态热阻抗测试的基础上,基于结构函数分析技术建立器件由热阻、热容组成的RC热模型,并结合器件的封装结构对其内部热阻进行分析,得到了器件各层材料的内部热阻分别为:芯片0.12℃/W、焊接层0.18℃/W、绝缘层0.21℃/W、管座0.67℃/W。研究表明,利用结构函数分析大功率整流管内部热阻是一种可靠、有效的方法,对于器件封装结构的热设计具有重要意义。 展开更多
关键词 整流(二极)管 结构函数 热阻 封装 RC热模型 热设计
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A Distributed Phase Shifter Using Bi_(1.5)Zn_(1.0)Nb_(1.5)O_(7)/Ba_(0.5)Sr_(0.5)TiO_(3) Thin Films 被引量:1
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作者 李汝冠 蒋书文 +1 位作者 高莉彬 李言荣 《Chinese Physics Letters》 SCIE CAS CSCD 2013年第7期251-253,共3页
We report the demonstration of a monolithic phase shifter employing Bi_(1.5)Zn_(1.0)Nb_(1.5)O_(7)/Ba_(0.5)Sr_(0.5)TiO_(3)(BST)thin films on sapphire substrates.The BST and BZN thin films are successively deposited by ... We report the demonstration of a monolithic phase shifter employing Bi_(1.5)Zn_(1.0)Nb_(1.5)O_(7)/Ba_(0.5)Sr_(0.5)TiO_(3)(BST)thin films on sapphire substrates.The BST and BZN thin films are successively deposited by radio-frequency magnetron sputtering.A distributed phase shifter with a coplanar-waveguide transmission line periodically loaded with the BZN/BST capacitors is fabricated.The return loss of the circuit is better than-13 dB from 1 to 12 GHz,and it provides 65°phase shift with an insertion loss of-4 dB at 12 GHz.The results show that BZN/BST thin films are promising candidate dielectrics for rf/microwave tunable applications. 展开更多
关键词 (3) BST PHASE
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基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术 被引量:2
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作者 毛景雄 岳龙 +3 位作者 邓艺华 陆裕东 李汝冠 江雪晨 《中国集成电路》 2022年第12期84-89,共6页
微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。本文对MCU测试... 微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。本文对MCU测试过程中,对测试方法在各环节中的应用,测试平台设备的选择、测试软硬件开发、测试数据收集与分析三大环节中的关键技术性问题进行了简述。 展开更多
关键词 MCU测试 工程化与量产 测试硬件设计 程序开发调试 测试数据分析
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Tunable Ba_(0.5) Sr_(0.5) TiO_3 film bulk acoustic resonators using SiO_2 /Mo Bragg reflectors
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作者 杨天应 蒋书文 +1 位作者 李汝冠 姜斌 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2012年第10期369-374,共6页
Tunable and switchable Ba 0.5 Sr 0.5 TiO 3 film bulk acoustic resonators(FBARs) based on SiO 2 /Mo Bragg reflectors are explored,which can withstand high temperature for the deposition of Ba x Sr 1 x TiO 3(BST) fi... Tunable and switchable Ba 0.5 Sr 0.5 TiO 3 film bulk acoustic resonators(FBARs) based on SiO 2 /Mo Bragg reflectors are explored,which can withstand high temperature for the deposition of Ba x Sr 1 x TiO 3(BST) films at 800 C.The dc bias-dependent resonance may be attributed to the piezoelectricity of the BST film induced by an electrostrictive effect.The series resonant frequency is strongly dc bias-dependent and shifts downwards with dc bias increasing,while the parallel resonant frequency is only weakly dc bias-dependent and slightly shifts upwards at low dc bias( 45 V) while downwards at higher dc bias.The calculated relative tunability of shifts at series resonance frequency is around 2.3% and the electromechanical coupling coefficient is up to approximately 8.09% at 60-V dc bias,which can be comparable to AlN FBARs.This suggests that a high-quality tunable BST FBAR device can be achieved through the use of molybdenum(Mo) as the high acoustic impedance layer in a Bragg reflector,which not only provides excellent acoustic isolation from the substrate,but also improves the crystallinity of BST films withstanding higher deposition temperature. 展开更多
关键词 Ba x Sr 1-x TiO 3 tunable film bulk acoustic wave resonator ferroelectric acoustic Bragg reflector
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元器件长期贮存寿命评估方法概述
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作者 毛景雄 明志茂 +3 位作者 陆裕东 岳龙 江雪晨 李汝冠 《中国集成电路》 2022年第11期54-58,共5页
为了满足电子装备的长期贮存可靠性要求,组成电子装备的各个部件或模块均应具有长期贮存性能。明确元器件贮存寿命是保证装备长期贮存的关键。本文对元器件贮存寿命的评估方法进行了概述。
关键词 元器件贮存 自然贮存 加速寿命试验
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Bi_(1.5)Zn_(1.0)Nb_(1.5)O_7/Ba_(0.5)Sr_(0.5)TiO_3复合薄膜介电性能的频率特性研究
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作者 李汝冠 高莉彬 蒋书文 《电子元件与材料》 CAS CSCD 北大核心 2013年第6期26-30,共5页
采用射频磁控溅射法在蓝宝石基片上制备了Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7(BZN)/Ba0.5Sr0.5TiO3(BST)双层复合薄膜,并研究了该薄膜在100 kHz^6 GHz频率范围内的介电性能。研究结果表明,BZN/BST复合薄膜的介电性能具有良好的频率稳定性。该复合薄膜的... 采用射频磁控溅射法在蓝宝石基片上制备了Bi1.5Zn1.0Nb1.5O7(BZN)/Ba0.5Sr0.5TiO3(BST)双层复合薄膜,并研究了该薄膜在100 kHz^6 GHz频率范围内的介电性能。研究结果表明,BZN/BST复合薄膜的介电性能具有良好的频率稳定性。该复合薄膜的介电常数在研究的频率范围内基本与频率无关;其介电损耗在频率低于1 GHz时与频率无关,在频率高于1 GHz时随频率的上升而略微增大;薄膜在研究的频率范围内具有稳定的介电调谐率。 展开更多
关键词 频率特性 介电调谐 介电损耗 介电常数 铌酸锌铋(BZN) 钛酸锶钡(BST)
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