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提高整体开发流程的内存测试电路开发工具
1
作者
李韦宏
《中国集成电路》
2019年第9期75-78,共4页
随着半导体工艺技术的提升,IC的规模越来越大、频率越来越高,加上目前IC设计对于内存(SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM)需求的比重越来越大,对于5G、TV、网通、物联网、挖矿机、车用电子、智能语音装置等新一代系统芯片...
随着半导体工艺技术的提升,IC的规模越来越大、频率越来越高,加上目前IC设计对于内存(SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM)需求的比重越来越大,对于5G、TV、网通、物联网、挖矿机、车用电子、智能语音装置等新一代系统芯片(SoC)内的内存需求量也大,就意味着更大的芯片面积,且随着效能与耗电的要求更加严谨,芯片的工艺也就越往高阶工艺迈进,设计的复杂度越高,开发的时间相对也越高。
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关键词
开发工具
测试电路
内存
半导体工艺
IC设计
DRAM
系统芯片
Flash
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职称材料
题名
提高整体开发流程的内存测试电路开发工具
1
作者
李韦宏
机构
芯测科技股份有限公司
出处
《中国集成电路》
2019年第9期75-78,共4页
文摘
随着半导体工艺技术的提升,IC的规模越来越大、频率越来越高,加上目前IC设计对于内存(SRAM、ROM、Embedded Flash、DRAM、Embedded DRAM)需求的比重越来越大,对于5G、TV、网通、物联网、挖矿机、车用电子、智能语音装置等新一代系统芯片(SoC)内的内存需求量也大,就意味着更大的芯片面积,且随着效能与耗电的要求更加严谨,芯片的工艺也就越往高阶工艺迈进,设计的复杂度越高,开发的时间相对也越高。
关键词
开发工具
测试电路
内存
半导体工艺
IC设计
DRAM
系统芯片
Flash
分类号
TN40 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
提高整体开发流程的内存测试电路开发工具
李韦宏
《中国集成电路》
2019
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