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ICP-MS测定地球化学样品中钍铀等14种元素 被引量:11
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作者 卜道露 杨旭 +2 位作者 李高湖 黄艳波 张志翔 《化学研究与应用》 CSCD 北大核心 2017年第8期1254-1257,共4页
采用盐酸-硝酸-氢氟酸-高氯酸消解样品,王水提取,以^(103)Rh和^(185)Re作内标,消除干扰;选择国家标准物质GBW07309制备溶液校准,确定了ICP-MS最佳工作参数。方法各元素检出限在0.004~0.085μg·g^(-1)之间,SRD<10%(n=12),经国家... 采用盐酸-硝酸-氢氟酸-高氯酸消解样品,王水提取,以^(103)Rh和^(185)Re作内标,消除干扰;选择国家标准物质GBW07309制备溶液校准,确定了ICP-MS最佳工作参数。方法各元素检出限在0.004~0.085μg·g^(-1)之间,SRD<10%(n=12),经国家一级标准物质分析验证,测定值与推荐值吻合较好,加标回收率为94.3%~106.6%。实验表明,方法快速、准确、灵敏度高等特点,可适用于快速检测批量地球化学样品中钴、镍、铷、铌、钼、钡、镧、铋、铯、铈、钨、铊、钍、铀元素的含量。 展开更多
关键词 电感耦合等离子体质谱法 地球化学样品 14种元素
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X射线荧光光谱法测定钻探岩心样品中的主次量元素
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作者 龚仓 李高湖 +2 位作者 黄艳波 徐建洪 蒋鉴 《应用化工》 CAS CSCD 2014年第S2期110-114,119,共6页
利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正... 利用X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了钻探岩心样品中Si、Al、Fe、Mg、Ca、Na、K、P、S、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Rb、Sr、Y、Zr、Nb、Mo、Ba、Nd、Yb、Hf、Ta、Pb和Th等33种主次量元素,研究了元素基体校正、谱线重叠校正和方法检出限、精密度、准确度。结果表明,该方法除Mo的检出限0. 8μg/g超出地球化学普查要求检出限0. 5μg/g外,其它元素都在要求范围内;绝大多数主、次量元素的精密度(RSD,n=12)均小于5%,主量和次量(除Mo外)元素的准确度分别小于0. 07和0. 11,方法精密度和准确度都满足地球化学普查的要求。该法具有操作简单、多元素分析、非破坏性测定等特点,适用于大批量钻探岩心样品的分析生产。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 粉末压片法 钻探岩心样品 多元素分析
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X射线荧光光谱法测定富砷地质样品中的主次痕量元素 被引量:11
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作者 龚仓 李高湖 +2 位作者 付桂花 唐鑫 黄艳波 《分析试验室》 CAS CSCD 北大核心 2014年第10期1220-1224,共5页
利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰。... 利用Axios X射线荧光光谱仪,借助粉末压片制样测定了富砷地质样品中As,S,Ti,V,Cr,Mn,Zr,Co,Ni,Cu,Zn,Mo,Ba,Pb,SiO2,Al2O3,Fe2O3,MgO,CaO,Na2O和K2O等21种主次痕量元素,用理论α系数校正基体效应,用强度方式计算重叠系数校正重叠干扰。实验结果表明,该方法除Mo的检出限0.8μg/g超出地球化学普查要求检出限0.5μg/g外,其它元素满足要求;除元素Mo的均值方根高于2倍相对计数统计误差外,其它元素的均值方根均小于2倍相对计数统计误差,且绝大多数元素的均值方根(n=12)都小于1.0%;另外,对国家标准物质的测试结果与标准值相一致。将本方法用于实际样品的测试,分析结果与其它化学分析方法相符。 展开更多
关键词 X射线荧光光谱法 基体效应 地质样品 粉末样压片
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