期刊文献+
共找到4篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
IC封装、测试行业的文件编制标准
1
作者 杜椿楣 《电子工业专用设备》 2013年第10期58-62,共5页
在查阅、处理IC(集成电路)封装、测试行业相关文件、资料的过程中,发现该行业的文件编制标准很不统一:不同的公司使用不同的标准,同一公司的文件编制也往往使用不同的规则。这给该行业的文件使用者在查找和审核带来很大困扰。编制一份... 在查阅、处理IC(集成电路)封装、测试行业相关文件、资料的过程中,发现该行业的文件编制标准很不统一:不同的公司使用不同的标准,同一公司的文件编制也往往使用不同的规则。这给该行业的文件使用者在查找和审核带来很大困扰。编制一份正式受控的技术类型的文件不应只考虑内容,还需附含文件名称、文件编号、文件版号等等.这样才能作为追溯和判别产品是否符合加工要求的依据。随便一段文字、一次谈话、一个邮件、一次电话、一个会议纪要往往不适合作为指导产品加工的文字依据。给出适合该行业文件编制规则的基本要求。其他行业的文件编制也可用作参考。 展开更多
关键词 IC(集成电路) 封装 测试 文件编制
下载PDF
装片机漏晶检测器的改造——reflection反射功能
2
作者 杜椿楣 《电子工业专用设备》 2012年第7期15-18,共4页
随着市场经济竞争激烈,提高产品质量及合格率、降低成本是企业关注的核心问题。IC封装过程中的来料数和实际装片数之差即CV,这个数字客户一般仅给0.5%的控制。正常情况下,只要我们设备、检测系统没有问题,这个数值应该可以保证。但实际... 随着市场经济竞争激烈,提高产品质量及合格率、降低成本是企业关注的核心问题。IC封装过程中的来料数和实际装片数之差即CV,这个数字客户一般仅给0.5%的控制。正常情况下,只要我们设备、检测系统没有问题,这个数值应该可以保证。但实际操作过程中,会发生或短缺很多(需要赔偿客户),或废品很多(影响封回率),影响这一数值的关键部位就是———漏晶检测系统。 展开更多
关键词 装片机 漏晶 检测器
下载PDF
ESEC 2008HS装片机Manua Downset的改造设计
3
作者 杜椿楣 顾健 《电子工业专用设备》 2012年第6期15-19,共5页
随着市场需求的不断变化,客户对于产品质量和设备效率的要求越来越高。如何提高设备效率,不让一个工序成为瓶颈而影响到整条生产线的生产周期,成为公司技术人员不得不面对的问题。详细描述了关于ESEC 2008HS装片机的手动Downset的改造... 随着市场需求的不断变化,客户对于产品质量和设备效率的要求越来越高。如何提高设备效率,不让一个工序成为瓶颈而影响到整条生产线的生产周期,成为公司技术人员不得不面对的问题。详细描述了关于ESEC 2008HS装片机的手动Downset的改造计划。此改善旨在提高设备效率的同时也节约成本,并且降低工艺和维修人员的操作难度。通过多方多次对实际效果的确认,结论为确实达到了预期目标。 展开更多
关键词 瑞士优利讯公司 装片机 可调整工作台
下载PDF
消除SOT产品压筋的方法
4
作者 郑娟莉 杜椿楣 《电子工业专用设备》 2019年第3期50-55,共6页
压筋异常给企业生产带来的不便,额外增加了企业成本,给产品质量带来了隐患。为提高设备效率,消除影响整条生产线生产周期(即影响交货期)的每一个瓶颈工序,通过运用PDCA循环的方法,改善了压筋,并取得较好的效果,提升了工程能力。
关键词 小外形晶体管(SOT) 切筋打弯 压筋
下载PDF
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部