MRPC物理机制研究

主要研究了MRPC单层气隙工作的物理机制。MRPC工作的物理过程可分为初始电离和电子雪崩两个基本点阶段,依据气体导电理论和相关专业软件,可模拟计算出MRPC单层气隙中的感应电流、本征探测效率与时间分辨率等物理参数。将计算结果与实验结果相比,表明在MRPC中,空间电荷效应明显,电子雪崩甚至达到饱和。

方兴未艾的微单元结构气体探测器

介绍了微单元结构位置灵敏气体探测器的发展近况,探讨了其在生物医学中的应用前景及利用模拟计算软件辅助设计和研制气体探测器的方法。

气体电子倍增膜(GEM)探测器的读出方式

作为一种新型微单元结构气体探测器,GEM探测器具有许多优势,其中之一就是其读出方式灵活多样。标准不同,读出方式的分类亦不相同。根据读出方式的不同原理,将GEM探测器的读出方式分为四种,分别介绍了这四种读出方式的基本原理,结构及工作过程,并对它们各自的优缺点作了比较。

MRPC宇宙线测试技术研究

采用宇宙线测试系统,同时测量两个空间位置对齐的多气隙电阻板室。采用两种不同的事例挑选方法对两个室的性能进行了分析。结果表明,当选取近乎垂直入射的事例时,MRPC的时间分辨、雪崩信号比例等各项性能均得到提高。还研究了pad间串扰对MRPC性能的影响。

国内外汽车前照灯标准及试验方法对比

主要介绍中国、美国、欧洲、澳大利亚的汽车前照灯的测试标准及试验方法,从安装要求、配光试验和前照灯环境试验等方面进行比对,从而为国内汽车灯具的设计和检测提供帮助。

自适应远光(ADB)相关法规研究

文中重点阐述了汽车自适应前照明系统中目前比较前沿的自适应远光(ADB)技术,描述了自适应远光系统的构成,详细介绍了ECE法规R48和R123中关于自适应远光(ADB)的标准规定和测试要求。

前照灯自适应系统(AFS)试验方法研究

介绍了前照灯自适应系统(Adaptive Front-Lighting Systems,以下简称AFS)的发展现状,研究了AFS的法规ECE R123/01《关于机动车自适应前照灯系统(AFS)认证的统一规定》中不同AFS照明模式(C、V、E、W)的配光要求和试验方法。

汽车后雾灯配光试验的分析及改进

主要阐述了在汽车后雾灯配光试验中出现的问题,通过试验数据和屏幕等照度图分析问题产生的原因,并提出建议整改的解决方案,最后通过整改后使后雾灯的配光完全满足国标的要求。

汽车前照灯的配光稳定性试验标准法规研究

主要阐述了灯丝灯泡前照灯、气体放电光源前照灯、LED前照灯和自适应前照明系统的配光性能的稳定性试验。同时,对在受热情况下明暗截止线垂直位置的变化试验以及温度稳定性试验之间进行比对并分析差异的原因。

汽车气体放电光源前照灯研究

对汽车用气体放电光源前照灯的特点、工作原理和基本结构进行了论述,并从性能、光谱及色温、可靠性、配光上将气体放电前照灯和卤钨前照灯作了比较。重点阐述了气体放电前照灯的配光检验,因而开发高质量的气体放电前照灯,对汽车行业的发展颇具现实意义。

MRPC辐照性能试验系统设计

研究MRPC探测器的抗辐照性能,对于RHIC-STAR实验MRPC-TOF的长期稳定运行具有重要意义。设计制作了3.7GBq60Coγ放射源MRPC辐照性能试验系统,并在两种不同剂量率下进行了辐照实验,得到了MRPC辐照前后的性能变化情况。

浅谈汽车灯具E标志

主要阐述了汽车灯具的ECE法规和E标志。通过对E标志的论述,知道该款灯具有什么功能满足那些ECE法规,对应于哪些国标要求,因此对汽车灯具的配光性能试验都非常重要的指导和参考作用。

光学塑料表面涂层检测试验台的设计

光学塑料表面涂层检测试验台主要是根据汽车行业灯具试验相关标准设计,对汽车灯具塑料配光镜涂层附着力进行检验的一种测试设备。它能够按照规定的速度自动测量粘胶带的附着力,用规定的高速度自动进行塑料配光镜涂层附着力的试验。

基于数值解析方法的γ能谱无源效率刻度方法研究

以理论分析和数值计算为基础,建立了一种基于数值解析的无源效率刻度方法。构建了φ3.8 cm×3.8 cm的LaBr_(3)(Ce)和NaI(Tl)探测器几何模型,分析了γ射线与探测器的作用路径、源与探测器相对位置和峰总比等因素,并提出非同轴点源本征效率计算公式。据此,将点源效率的数值计算拓展至面源和体源效率计算,以辛普森算法为基础对数值积分进行求解,并利用数值解析公式计算各向同性的^(137)Cs点源、面源和体源探测效率,与蒙特卡罗模拟结果相比相对偏差不超过3.5%;对不同位置处点源和不同尺寸面源、体源效率进行计算,与蒙特卡罗模拟结果相比相对偏差不超过4%。结果表明,基于数值解析的无源效率刻度方法具有快速的优势,可代替实验测量或者蒙特卡罗(Monte Carlo,MC)软件仿真效率刻度方法。该方法能推广至不同形状核辐射探测器效率刻度,为探测器效率刻度提供了新的途径。

GEM膜的化学刻蚀与性能测试

分析了化学蚀刻制作GEM膜过程中影响蚀刻质量的实验因素,并对相关的蚀刻条件进行了优化,制作出了8张灵敏面积为4×4cm2,孔径为85μm,孔间距为140μm的GEM膜并用其中的3张搭建了探测器。利用55Fe的X射线(5.9keV)测试探测器性能,结果显示,能量分辨率约为26%,有效增益可达105。

G-M计数管的可靠性

所介绍的采用新结构、新材料、新工艺制造的 G- M计数管具有很好的可靠性 ,其连续工作寿命在 5× 10 11以上 ,可连续工作十几年 ,断续工作寿命 (类似于储存寿命 )约是 2 0 a,在此期间的失效率在 5× 10 -6/ h以下。卤素 G- M计数管的可靠性与电离室、半导体探测器、闪烁体光电倍增管探头相当。

井型γ谱仪土壤样品探测效率刻度方法研究

井型γ谱仪能大幅缩短测量时间和样品用量,但在实际使用前,须对其进行效率刻度。介绍了一种采用MCNP(Monte Carlo N Particle Transport Code)通用软件包模拟计算与单能量点源实测修正相结合的井型γ谱仪土壤样品效率刻度方法。基于MCNP计算了γ射线不同能量、土壤样品不同质量的井型NaI(Tl)γ谱仪探测效率值,拟合了效率曲线数学模型,拟合值与MC模拟值最大相对偏差<±7%,并通过实测标准土壤样品源验证了所提方法的可行性,建立了基于MCNP模拟计算与体源实测修正相结合的井型γ谱仪效率刻度方法。

M-C模拟刻度井型γ谱仪水样探测效率

提出了MCNP模拟计算与单能体源实测修止相结合的井型γ谱仪水样效率刻度方法,基于MCNP,计算了γ射线不同能量、水样不同高度的井型NaI(Tl)γ谱仪全能峰效率值、拟合了数学模型,两者最大相对偏差小于3%,并通过点源实测验证了所提方法的可行性,建立了基于MCNP模拟计算与单点实测修正相结合的效率刻度方法。

国产无源效率刻度软件在HPGe γ谱仪上应用及评价

介绍了一款国产无源效率刻度软件的性能指标,以及用该软件对一套HPGe探测系统进行无源效率刻度应用情况。实验中,利用4个可溯源薄膜点源和2个可溯源的圆柱体体源对该探测系统进行有源效率刻度,并与使用国产无源效率刻度软件的刻度结果进行对比。比较发现,点源效率刻度上两者偏差为-0.08%-5.64%,体源效率刻度上两者偏差为3.95%-16.94%,均在可接受的范围内。实验表明：该软件用于HPGe探测系统进行效率刻度是可行的,可作为实验室γ能谱分析的辅助工具。

NaI(Tl)探测器γ谱平滑方法对比分析

综述了多种平滑方法的基本原理及使用方法。使用多种平滑方法分别对NaI(Tl)γ谱仪所测同一能谱进行平滑滤波处理,利用Matlab软件对平滑后的能谱数据进行处理,并与原始能谱进行比较。引用了平滑度指标,对比分析了单一平滑方法对γ能谱的平滑能力。将能谱分为不同能区,找到了适宜的平滑方法。结果表明:针对NaI(Tl)γ谱仪所测能谱,在低能区域和高能区域宜使用小波法和高斯法进行平滑,在中能区域使用傅里叶变换法平滑效果最佳。