超声相控阵全聚焦后处理成像技术的研究与发展

超声相控阵全聚焦后处理成像技术基于对全矩阵数据中缺陷检测回波超声信号的提取、分析与处理,实现对工件内部缺陷的检测成像。但全聚焦成像的后处理成像技术存在成像效率低、图谱缺陷信息单一、针对部分复杂型面的工件检测成像精度下降等问题。以全矩阵全聚焦算法理论为基础,研究超声相控阵全聚焦后处理技术,并提出今后的发展趋势及研究方向。