透射电子显微镜原位低温高频信号样品杆的研制

透射电子显微镜原位测试技术是未来电子显微学发展的聚焦方向,尤其是多种原位条件复合的特种样品杆,是目前科学研究急需的重要设备。本文简述了原位低温高频脉冲信号样品杆的设计方案,通过样品杆和芯片设计,实现样品在低温、电流、磁场和高频脉冲信号作用下的原位测试,可以实现100~300 K的连续变温,实现10 MHz~2 GHz高频脉冲信号的通入,可对微纳尺度功能材料在多种物理场作用下的结构与性质变化进行深入的分析。

Yb:YPO_4晶体的生长及光谱表征

随着激光技术的发展,小型、稳定、高效的微晶激光器得到了人们的日益关注[1]。由于高浓度掺杂激活离子[2],稀土正磷酸盐（REPO4）晶体成为微晶激光器基质材料之一,尤其是四方磷钇矿结构的磷酸钇（YPO4）晶体被学者广泛研究。Makhov V等[3]用紫外光激发Nd：YPO4晶体,在9-300K温度下,获得的荧光光谱均在189nm处有带宽较宽的发射峰。王丹等[4]测试了（Y,Tb）PO4晶体的荧光光谱,

Y0.145Gd0.855Ca4O(BO3)3混晶的晶体生长和压电、热膨胀性能(英文)

利用提拉法成功生长出了Y_(0.145)Gd_(0.855)Ca_4O(BO_3)_3(Y_(0.145)Gd_(0.855)CO_B)混晶。对其压电系数和热膨胀系数进行了测量,测得压电系数d26为9 pC/N,计算得到热膨胀系数α11,α22α33分别为12.97×10-6/℃,5.94×10-6/℃,8.03×10-6/℃。通过与YCa4O(BO_3)_3和GdC a_4O(BO_3)_3晶体的对比,分析了Re^(3+)半径和Re^(3+)、Ca^(2+)的无序分布对于Y0.145Gd0.855COB混晶的压电性能和热膨胀性能的影响。

Yb∶Lu_xY_(1-x)PO_4混晶的生长及成分分析

用Pb_2P_2O_7作为助熔剂采用自发成核的方法生长了Yb:Lu_xY_(1-x)PO_4混晶;X射线粉末衍射分析显示Yb:Lu_xY_(1-x)PO_4晶体为四方磷钇矿结构;用光学显微镜观察了混晶的形貌,发现(100)面为混晶的解理面。红外分析表明助熔剂没有掺杂进晶体内部;根据电子显微探针分析数据,晶体分子式近似可以写成Yb_(0.05)Y_(0.475)Lu_(0.475)PO_4。

离子束辐照对CoFeB薄膜磁性质的影响

聚焦离子束系统(focus ion beam,FIB)作为一种成熟的材料加工技术,在磁性材料的加工中得到广泛应用。然而,在利用FIB对磁性材料的加工过程中,难免会因为离子的辐照对样品产生影响。本文以CoFeB薄膜为研究对象,研究辐照强度对样品磁性质的影响。对于利用离子束辐照来调控薄膜性质具有指导意义。