基于内建自测的软错误与老化在线检测

负偏置温度不稳定性为主的老化会造成时序违规故障及软错误故障。为此,提出软错误与老化在线检测器(SEAOS)。在器件正常工作的情况下,在线检测上述2种故障。复用并发内建逻辑块观察器,使得硬件开销不超过30%。实验结果表明,在0.18μm工艺尺寸下,与经典检测结构相比,SEAOS有较好的检测能力,且硬件开销较少。

基于功能复用的抗老化BIST设计

随着不断缩小的工艺尺寸,NBTI为主导的老化因素对VLSI器件寿命的影响尤为突出。本文针对老化引起的时序违规提出了一种抗老化的结构设计TFM-CBILBO,在一种BIST结构——并发内建逻辑块观察器的基础上,复用了其中原本不工作的时序单元,根据电路老化程度切换工作模式,有效防止时序违规的发生。在UMC0.18μm工艺下的实验结果表明,TFM-CBILBO面积开销为20.53%~3.21%,相比非时序拆借方案时延开销降低40.0%～71.6%。