甜仁山杏优株幼果抗寒性研究

以2个优选的甜仁山杏的幼果为试材,以生产中主栽大扁杏品种优一和野生山杏山苦1、山苦2为对照,通过冷冻处理,以胚褐变率、电导率和MDA值为指标,研究了甜仁山杏优株的抗寒性.结果表明,供试2个优选的甜仁山杏品系胚褐变率低,半致死温度LT50较对照低0.51～0.94℃,供试5个品系抗寒性的顺序依次为山甜1>山甜2>山苦1、山苦2>优一.