晶圆级老化系统(WLBI:Wafer Level Burn—In)由于在确保KGD(Know Good Die)的同时,能够最有效地降低试验成本因此倍受市场关注。下面将晶圆级老化系统的最新技术动向:4倍于原设备处理能力的256颗Die可同时进行老化试验的系统介绍给...晶圆级老化系统(WLBI:Wafer Level Burn—In)由于在确保KGD(Know Good Die)的同时,能够最有效地降低试验成本因此倍受市场关注。下面将晶圆级老化系统的最新技术动向:4倍于原设备处理能力的256颗Die可同时进行老化试验的系统介绍给大家。展开更多