二维材料厚度与片径的独立筛分

二维材料是当前科学研究的前沿领域.二维材料的性质与其厚度和片径密切相关,如何获得厚度和片径均匀且可调控的二维材料,是其应用的关键.本文提出了一种三步筛分法,实现了二维材料厚度与片径的独立筛分.以二维六方氮化硼为例,三步筛分法可以将其厚度和片径独立地筛分为不同组分,所得组分均具有较窄的厚度和片径分布,且厚度全部小于6 nm.本文还进一步发展了一种力场提取法,实现了二维六方氮化硼、二硫化钼和氧化石墨烯的规模化片径筛分,是二维材料片径筛分的普适方法.本工作提出的筛分方法可制备出结构均一的二维材料,对其基础研究与应用意义深远.