基于LabVIEW和多光谱成像技术的苹果品质无损检测装置

基于Lab VIEW和多光谱成像技术设计了一套苹果品质检测装置,包括硬件设计和软件设计。硬件部分主要由单片机控制模块、光源模块、电机模块以及图像采集模块等组成;软件部分采用基于LabVIEW的G语言进行编写,包括通信模块、图像采集与保存模块以及图像处理与显示模块等。检测装置经调试后,对每个苹果的图像采集与处理时间为8 s,能够对大小、形状、损伤以及糖度等指标进行检测,具有无损、快速的特点。

基于锥形渐变不对称耦合的模式复用/解复用器

设计了一种采用锥形渐变不对称耦合结构的模式复用/解复用器,并利用商用的0.18μm互补金属氧化物半导体兼容工艺进行制备.通过控制锥形波导的宽度,基于模式有效折射率匹配原则,实现锥形波导中的基模与多模波导中的高阶模式相互转化.测试结果表明:当器件用于TE0、TE1和TE2三个模式复用与解复用时,在1 530nm到1 570nm波长范围内,串扰低于-8.05dB;而当器件复用与解复用TE0和TE2时,串扰低于-16.43dB.

基于电流选择器预加重的CML驱动电路设计

为提升基于PIN电学结构载流子注入式硅基电光调制器性能,采用TSMC 0.18μm CMOS工艺设计一种新型预加重驱动电路.该电路采用电流模逻辑(CML)结构,并引入低压差分信号(LVDS)型电流选择器,在实现提升响应速度和工作带宽的同时,降低整体平均功耗.仿真结果表明:基于PIN电学结构载流子注入式硅基电光调制器的电压响应时间同时受预加重驱动信号过冲幅度和持续时间影响.当预加重驱动信号过冲幅度和持续时间分别取值为2 V和0.2 ns时,基于PIN电学结构载流子注入式硅基电光调制器的电压响应时间缩减了16.7%,工作带宽扩展至4.34倍,且根据不同的开关活动性需求,平均功耗最高降低了60%.