硅源对微米级SiO_2性能影响研究

分别以硅酸钠和正硅酸乙酯为硅源,通过化学沉淀法和溶胶-凝胶法制备了微米级SiO_2,采用SEM、XRD、FTIR等对产物进行了分析和表征。结果表明:以Na_2SiO_3为硅源,通过化学沉淀法制备的微粒为不规整的颗粒状结构,平均粒径14.70μm,比表面积239 m2/kg;以TEO_S为硅源,通过溶胶-凝胶法制备了平均粒径为15.95μm的圆球,比表面积239 m2/kg、比表面积213 m2/kg;FTIR结果显示两种微粒的吸收峰基本一致,XRD分析的衍射峰也一致,两种硅源对产物的组成和晶形没有影响,产物纯度高。