矽线石莫来石化的X射线定量分析

本文介绍用X射线粉晶衍射分析方法对夕线石在不同温度的烧制品中的莫来石进行定量分析;指出莫来石和矽线石的(220)峰可作为特征峰,并发现莫来石起始生成和完全莫来石化的温度随原料杂质和粒度因素而变化;认为d(020)=0.383 7nm,d(040)=0.191 7nm是矽线石JCPDS卡片中不曾标定的衍射峰,d(020)=0.3845nm是莫来石不曾标定的衍射峰,它们的强度变化是莫来石化行为特征之一。

降低高纯氧化镁烧结温度的研究

由高纯菱镁矿获得的氧化镁很难烧结,采用菱镁矿轻烧活化后与加入的少量活性碳共同细磨的工艺,可降低其烧结温度。当活性碳加入量在0.05—0.10wt％时,试样的体积密度、平均晶粒尺寸均较不加者为大;随活性碳加入量继续增加,体积密度与晶粒尺寸明显减小。