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硼离子注入对硅基Si_3N_4薄膜驻极体性质的影响及力学性能的改善 被引量:2
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作者 张晓青 夏钟福 +3 位作者 潘永刚 张冶文 李宝清 林梓辛 《应用科学学报》 CAS CSCD 2000年第3期255-258,共4页
利用硼离子B+注入方法来改善Si3N4薄膜的力学性质,并就B+注入对Si3N4薄膜驻极体性质的影响进行了较为系统的研究.实验结果表明,B+注入能够有效地降低薄膜的内应力,而对薄膜的驻极体性质有不利的影响;用化学表面修... 利用硼离子B+注入方法来改善Si3N4薄膜的力学性质,并就B+注入对Si3N4薄膜驻极体性质的影响进行了较为系统的研究.实验结果表明,B+注入能够有效地降低薄膜的内应力,而对薄膜的驻极体性质有不利的影响;用化学表面修正能够在一定程度上提高材料的抗恶劣环境能力。 展开更多
关键词 氮化硅薄膜 驻极体 硼离子注入 内应力
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