SJ-Ⅲ型水浸检漏仪的研制

目前,在密封类电子元器件的气密性检验工序中,传统检测方法仍然是手工检漏,不但效率低,而且漏检、错检的情况时有发生,为进一步提高检测效率和检测质量,文章研制了一款SJ-Ⅲ型水浸检漏仪,可有效提高电子元器件检漏工序的检测效率和质量,实现一键化操作、智能高效。