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高功率光纤中传输光模式与其波长相关性研究
被引量:
1
1
作者
梁井川
冯国英
+2 位作者
张澍霖
兰斌
周寿桓
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第19期78-85,共8页
针对高功率光纤激光模式诊断和光谱诊断的需求,研究了光纤中传输模式的波长相关性,数值计算了光纤中各个模式的模场分布随波长的变化曲线及相应的光束质量,采用双傅里叶变换F^2法实际测量了光纤模式成分与波长的关系曲线.结果表明,光纤...
针对高功率光纤激光模式诊断和光谱诊断的需求,研究了光纤中传输模式的波长相关性,数值计算了光纤中各个模式的模场分布随波长的变化曲线及相应的光束质量,采用双傅里叶变换F^2法实际测量了光纤模式成分与波长的关系曲线.结果表明,光纤中各个模式的模场分布随波长变化,波长越长,模场面积越大;模式的光束质量随波长变化不大,但在截止频率附近明显变差;光纤中各个模式的功率占比与波长有关.
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关键词
光纤模式
基于空间域和频率傅里叶变换的F^2法
群时延差异
光谱干涉
下载PDF
职称材料
用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪
被引量:
1
2
作者
兰斌
冯国英
+2 位作者
张涛
梁井川
周寿桓
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第6期351-360,共10页
提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相...
提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相遇、相干.通过旋转待测样品改变相干的两束光光程差,从而使干涉条纹发生移动.形成的相干光被分光板分成两束,一束进入光电探测器用于探测干涉条纹移动数的整数部分,另一束则进入电荷耦合探测器用于采集干涉条纹图来计算干涉条纹移动数的小数部分.通过计算条纹移动数反推出光程差的变化量,再结合折射率或样品厚度信息则可以计算出样品厚度或折射率的分布,从而检测出透明介质的平行度和均匀性.模拟仿真和光学实验均证明了本方法的可行性、准确性和稳定性.
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关键词
干涉测量法
相位测量
图像处理
折射率
下载PDF
职称材料
题名
高功率光纤中传输光模式与其波长相关性研究
被引量:
1
1
作者
梁井川
冯国英
张澍霖
兰斌
周寿桓
机构
四川大学电子信息学院激光微纳工程研究所
华北光电技术研究所
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第19期78-85,共8页
基金
国家自然科学基金(批准号:11574221)
国家高技术研究发展计划(批准号:JG2011105)资助的课题~~
文摘
针对高功率光纤激光模式诊断和光谱诊断的需求,研究了光纤中传输模式的波长相关性,数值计算了光纤中各个模式的模场分布随波长的变化曲线及相应的光束质量,采用双傅里叶变换F^2法实际测量了光纤模式成分与波长的关系曲线.结果表明,光纤中各个模式的模场分布随波长变化,波长越长,模场面积越大;模式的光束质量随波长变化不大,但在截止频率附近明显变差;光纤中各个模式的功率占比与波长有关.
关键词
光纤模式
基于空间域和频率傅里叶变换的F^2法
群时延差异
光谱干涉
Keywords
fiber modes, F^2 method based on spatial and spectral Fourier transform, group delaydifference, spectral interference
分类号
TN253 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪
被引量:
1
2
作者
兰斌
冯国英
张涛
梁井川
周寿桓
机构
四川大学电子信息学院激光微纳工程研究所
华北光电技术研究所
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017年第6期351-360,共10页
基金
国家自然科学基金(批准号:11574221)资助的课题~~
文摘
提出了一种基于单元件干涉的用于检测透明介质平整度和均匀性的干涉仪.该干涉仪的核心元件是一个菱形分光棱镜.激光光源的平面波光束的一半光束透过待测样品,另一半光束直接透过空气,然后分别入射到菱形分光棱镜的两垂直面并在分光面相遇、相干.通过旋转待测样品改变相干的两束光光程差,从而使干涉条纹发生移动.形成的相干光被分光板分成两束,一束进入光电探测器用于探测干涉条纹移动数的整数部分,另一束则进入电荷耦合探测器用于采集干涉条纹图来计算干涉条纹移动数的小数部分.通过计算条纹移动数反推出光程差的变化量,再结合折射率或样品厚度信息则可以计算出样品厚度或折射率的分布,从而检测出透明介质的平行度和均匀性.模拟仿真和光学实验均证明了本方法的可行性、准确性和稳定性.
关键词
干涉测量法
相位测量
图像处理
折射率
Keywords
interferometry
phase measurement
image processing
refractive index
分类号
TH744.3 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高功率光纤中传输光模式与其波长相关性研究
梁井川
冯国英
张澍霖
兰斌
周寿桓
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017
1
下载PDF
职称材料
2
用于透明平板平行度和均匀性测量的单元件干涉仪
兰斌
冯国英
张涛
梁井川
周寿桓
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2017
1
下载PDF
职称材料
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