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重掺锑单晶硅及其掺杂和生长方法 被引量:1
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作者 梁李成 蒋荣华 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第1期49-53,共5页
叙述了生长重掺锑单晶硅的必要性、困难性和克服这些困难的方法;还叙述了生长重掺锑单晶硅时固——液界面对晶体生长的影响以及如何获得理想的界面形状。介绍了一些典型的晶体生长参数和掺杂方法;讨论了生长重掺锑单晶硅时的组分过冷以... 叙述了生长重掺锑单晶硅的必要性、困难性和克服这些困难的方法;还叙述了生长重掺锑单晶硅时固——液界面对晶体生长的影响以及如何获得理想的界面形状。介绍了一些典型的晶体生长参数和掺杂方法;讨论了生长重掺锑单晶硅时的组分过冷以及避免的方法;还讨论了如何提高重掺锑单晶硅的晶体完整性。指出了生长重掺锑单晶硅的关键在于找到形成稳定固——液界面的条件,防止组分过冷的发生。为此,要使用较小的晶体生长速度,在较大的纵向温度梯度热场中生长晶体。此外,应在满足晶体电阻率要求的前提下,尽量使掺入锑量控制在最低限度。 展开更多
关键词 晶体生长 掺杂 掺锑 单晶硅
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硅吸除技术 被引量:1
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作者 蒋荣华 梁李成 肖顺珍 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1990年第3期289-296,共8页
本文详细地叙了各种硅吸除技术;阐明了非本征吸除、本征吸除和综合吸除的机理和工艺。举例说明了吸除技术的应用。
关键词 吸除技术 单晶材料 工艺
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90年代半导体硅的发展趋势
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作者 周福生 梁李成 刘宜家 《世界有色金属》 1994年第1期21-22,共2页
90年代半导体硅的发展趋势周福生,梁李成,刘宜家跨入90年代,随着微电子产业,信息产业的飞速发展,微细加工技术的不断提高,以DRAM(动态随机存储器)为代表的集成电路几乎以每三年提高四倍的速度飞速增长。预计在2000... 90年代半导体硅的发展趋势周福生,梁李成,刘宜家跨入90年代,随着微电子产业,信息产业的飞速发展,微细加工技术的不断提高,以DRAM(动态随机存储器)为代表的集成电路几乎以每三年提高四倍的速度飞速增长。预计在2000年左右,1Gb(1024Mb)DR... 展开更多
关键词 半导体材料 发展
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