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飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用 被引量：3
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作者 丛培红 李同生 +1 位作者 刘旭军 森诚之 《摩擦学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第6期592-599,共8页
介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问... 介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示. 展开更多
关键词 飞行时间二次离子质谱(TOF—SIMS) 表面分析 摩擦膜 硬磁盘/磁头摩擦学 摩擦化学反应
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