面向存储器核的内建自测试

存储器内建自测试是当前针对嵌入式随机存储器测试的一种经济有效的途径。它实质是 BIST测试算法在芯片内部的硬件实现,形成“片上BIST测试结构”,作为E RAM核与芯片系统其他逻辑电路的接口,负责控制功能,实现片上E RAM的自动测试。根据一个实际项目,本文介绍了MBIST的整体设计过程,并针对测试开销等给出了定量和定性的讨论。

一种微处理器芯片的验证测试分析及应用

验证测试技术是验证芯片设计正确与否的重要环节,不仅向设计者及时反馈了有效的信息以尽早发现错误、改进设计,并能为降低测试成本和生产测试提供有效保障。基于实际工程,该文提出了一个较有效的验证分析流程方案,采用多测试项目融合的测试法对一款微处理器芯片进行了验证分析,并对相关测试项目进行了定量、定性的评估。

孙凝晖:为了明天的曙光

孙凝晖，中国科学院计算技术研究所系统结构研究部主任兼计算机系统重点实验室主任，研究员，博士生导师，计算机系统结构专家，曙光高性能计算机的学术带头人，第17届“中国十大杰出青年”。

陈云霁:创“芯”国之重器

人物名片陈云霁,中国科学院计算技术研究所研究员,博士生导师。现任中国科学院脑科学卓越中心特聘研究员、计算所智能处理器中心主任、寒武纪党总支书记。他带领智能处理器研究中心(寒武纪课题组),研制国际上首个深度学习专用处理器芯片'寒武纪',曾荣获全国创新争先奖、中国青年科技奖、国家万人计划'青年拔尖人才'称号等。