期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
2
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
ATE测量系统分析建模
被引量:
3
1
作者
武立树
《电子制作》
2013年第13期47-48,共2页
本文为进行测量系统的MSA研究提供指导。重点研究ATE的可重复性、再现性。利用方差分析(ANOVA)法实现了ATE的参数MSA建模。并将该模型应用到验证测试平台的可靠性。
关键词
自动测试系统
测量系统
量具
可重复性
再现性
方差分析法
参数MSA
下载PDF
职称材料
模板匹配法在芯片印字检测中的应用
2
作者
武立树
《电子制作》
2013年第14期48-48,共1页
近几年来,随着经济的发展,科技的进步,芯片市场也出现了较大的问题和缺陷,比如假冒、伪劣、翻新等。芯片印字工艺也随着芯片市场的问题而产生,如何提高芯片印字的检测率引起了人们的重视。随着人们对模板匹配法的深入研究,该法渐渐成为...
近几年来,随着经济的发展,科技的进步,芯片市场也出现了较大的问题和缺陷,比如假冒、伪劣、翻新等。芯片印字工艺也随着芯片市场的问题而产生,如何提高芯片印字的检测率引起了人们的重视。随着人们对模板匹配法的深入研究,该法渐渐成为芯片印字检测中的关键方面。本文主要从模板匹配法及其算法开始讨论,重点介绍了模板匹配法及其在芯片印字检测中的应用。
展开更多
关键词
模板匹配法
芯片印字
检测
下载PDF
职称材料
题名
ATE测量系统分析建模
被引量:
3
1
作者
武立树
机构
飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《电子制作》
2013年第13期47-48,共2页
文摘
本文为进行测量系统的MSA研究提供指导。重点研究ATE的可重复性、再现性。利用方差分析(ANOVA)法实现了ATE的参数MSA建模。并将该模型应用到验证测试平台的可靠性。
关键词
自动测试系统
测量系统
量具
可重复性
再现性
方差分析法
参数MSA
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
模板匹配法在芯片印字检测中的应用
2
作者
武立树
机构
飞思卡尔半导体(中国)有限公司
出处
《电子制作》
2013年第14期48-48,共1页
文摘
近几年来,随着经济的发展,科技的进步,芯片市场也出现了较大的问题和缺陷,比如假冒、伪劣、翻新等。芯片印字工艺也随着芯片市场的问题而产生,如何提高芯片印字的检测率引起了人们的重视。随着人们对模板匹配法的深入研究,该法渐渐成为芯片印字检测中的关键方面。本文主要从模板匹配法及其算法开始讨论,重点介绍了模板匹配法及其在芯片印字检测中的应用。
关键词
模板匹配法
芯片印字
检测
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ATE测量系统分析建模
武立树
《电子制作》
2013
3
下载PDF
职称材料
2
模板匹配法在芯片印字检测中的应用
武立树
《电子制作》
2013
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部