遥感技术及地理信息系统在地质勘查中的应用探讨

在矿业发展中,地质勘探是最基本的工作。近几年来,由于卫星、GIS等的不断发展和运用,使我国的地勘工作有了很大的提高。GIS它是通过对GIS中的各种数据进行集成、分析,从而实现对地质勘探的有效、可持续、可扩展、具有广阔的应用前景。遥感与地理信息系统可为地质勘探提供高效、准确、全面的信息支撑,大大提升了勘查工作的效率与质量。

基于散射场分布拟合逼近的表面缺陷检测

为了实现对光学元件表面不同尺寸尤其是微小尺寸缺陷的精确检测,以典型的光学元件表面缺陷即麻点和划痕为研究目标,提出了一种基于散射场分布拟合逼近的表面缺陷检测方法。实验结果表明,本方法可以对光学元件表面的微小尺寸缺陷进行快速有效的检测,且拟合计算结果与样件原始尺寸的相对误差基本小于5%,验证了本方法的有效性。此外,本方法还解决了现有测量方法精度低、结构复杂的问题,为精确检测光学元件表面的微小尺寸缺陷提供了新思路。