热电偶时间常数测试中阶跃温升信号的研究

为了对热电偶时间常数进行准确测试,采用上升时间5μs、功率500W的大功率半导体激光器作为系统激励源对热电偶进行加热的方法,对时间常数进行了理论分析和实验验证。利用半导体激光器输出连续且光斑能量均匀稳定的优点,解决了原测试系统中传统激励源作用机理的限制。结果表明,由于半导体激光器输出功率恒定,利用闭环反馈控制激光功率的方法,产生激光阶跃温升信号,保证了热电偶的均匀加热,得到了期望的平衡温度;4支不同热电偶时间常数分别测得为2.806s,3.094s,2.229s和2.457s。该反馈控制器具有较强的鲁棒性,测试系统可激发较理想的阶跃温升信号,为热电偶时间常数测试提供高质量的激励源。

阶跃温度场在热电偶时间常数测试中的应用

传统的采用机械方式将热电偶投掷到温度场热中测量电偶时间常数的方法,由于时间上的延迟,无法测量ms级、甚至μs级热电偶的时间常数,为此,提出了1种热电偶时间常数测试系统,该系统以大功率半导体激光器为阶跃温度场的激励信号对热电偶加热,利用红外探测器反馈控制模块实现加热过程温度场的控制。实验结果表明:提高激光器输出功率密度可以在50ms内产生1 126℃阶跃高温场;利用反馈控制模块可以在热电偶达到某一温度阶跃后,使热电偶吸收热量和散失热量达到动态平衡;测得某接点外露型热电偶在标况下阶跃温度为700℃时的时间常数为446ms。

比色原理便携式瞬态温度测试仪设计

针对非接触测温精度高,响应速度快,不影响被测温度场,测试可重复率高,设计了一种基于比色原理的体积小、封装化便携式瞬态测温仪,由M390型超高温黑体辐射校正源对其进行了静态标定。最后,使用氢氧焰机加热铁片靶体的形式模拟温度场,并通过导轨设置距离,测量不同距离下比色测温装置及高速工业级光纤红外线变送器(OS4000)瞬态温度,实验结果表明,该测温仪的有效测温范围是600℃~1 200℃,有效测量距离是0~50 cm,可以满足一定范围的温度测量。

电子设备中的电气干扰及抗干扰措施研究

随着社会的不断发展,电子技术日益成熟,电子机械设备成为人们生活中不可缺少的一部分。随之而来的就是电气干扰问题,电气干扰会给电子设备带来很多不好的影响,人们在使用过程中,要时刻关注引起电气干扰情况的原因。所以,关于电子设备的抗干扰能力的提升成为相关工作人员研究的主要方向。

基于原子发射双谱线的温度测量技术研究

基于原子发射双谱线测温原理,提出了基于硅光电倍增管的光电测温系统,介绍了该测温装置的结构及测温原理。基于原子光谱数据库选择Al I 690.6nm和Al I 708.5nm作为测温时的温标谱线,通过光电测温计测量铝在纯氧中燃烧时的温度,并将其与热电偶测量的温度进行对比。结果表明,两种方法测得温度的平均相对误差为1.5%,证明了基于原子发射双谱线测温技术的可行性。