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一种基于flash的硬件ECC设计原理及实现
被引量:
1
1
作者
段曦冉
《微处理机》
2023年第6期15-18,共4页
为应对芯片中因工艺问题、时序偏差、电路不稳定等因素导致的flash位翻转,设计一种基于144位flash的硬件ECC。该ECC是基于144位flash设计的专用ECC,支持128位数据中1位错误检测纠正、2位错误检测和记录错误地址等功能;对2位以上错误也...
为应对芯片中因工艺问题、时序偏差、电路不稳定等因素导致的flash位翻转,设计一种基于144位flash的硬件ECC。该ECC是基于144位flash设计的专用ECC,支持128位数据中1位错误检测纠正、2位错误检测和记录错误地址等功能;对2位以上错误也可做大概率检测。通过仿真实验,逐一验证功能的效果和可靠性,并通过FPGA原型验证。本设计的ECC对数据的检测纠正无需CPU处理,也无需软件处理,增强了flash和系统的可靠性,具有一定的应用价值。
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关键词
错误检测纠正
Flash可靠性
1位错误校正
差错控制
位翻转
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职称材料
题名
一种基于flash的硬件ECC设计原理及实现
被引量:
1
1
作者
段曦冉
机构
中国电子科技集团公司第四十七研究所
出处
《微处理机》
2023年第6期15-18,共4页
文摘
为应对芯片中因工艺问题、时序偏差、电路不稳定等因素导致的flash位翻转,设计一种基于144位flash的硬件ECC。该ECC是基于144位flash设计的专用ECC,支持128位数据中1位错误检测纠正、2位错误检测和记录错误地址等功能;对2位以上错误也可做大概率检测。通过仿真实验,逐一验证功能的效果和可靠性,并通过FPGA原型验证。本设计的ECC对数据的检测纠正无需CPU处理,也无需软件处理,增强了flash和系统的可靠性,具有一定的应用价值。
关键词
错误检测纠正
Flash可靠性
1位错误校正
差错控制
位翻转
Keywords
ECC
Flash reliability
1-bit error correction
Error control
Bit flip
分类号
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
一种基于flash的硬件ECC设计原理及实现
段曦冉
《微处理机》
2023
1
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