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宇航元器件极限评估试验剖面设计
被引量:
7
1
作者
毋俊玱
董宇亮
+1 位作者
张小川
张洪伟
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期59-63,67,共6页
宇航元器件极限评估是一种新的可靠性评价技术,其目的是评价电子元器件的极限能力,以适应航天对电子元器件的高可靠性要求。介绍了极限评估和极限评估试验,提出了极限评估试验剖面设计的一般原则,给出了试验剖面设计的典型方法,并以微...
宇航元器件极限评估是一种新的可靠性评价技术,其目的是评价电子元器件的极限能力,以适应航天对电子元器件的高可靠性要求。介绍了极限评估和极限评估试验,提出了极限评估试验剖面设计的一般原则,给出了试验剖面设计的典型方法,并以微波固态功放的温度应力极限评估试验和GaAs单片微波集成电路的电压应力极限评估试验作为典型样例设计了试验剖面,通过试验验证了剖面的有效性,最后总结了极限评估试验剖面设计中应当注意的一些事项。
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关键词
可靠性
极限评估
剖面
温度应力
电压应力
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职称材料
题名
宇航元器件极限评估试验剖面设计
被引量:
7
1
作者
毋俊玱
董宇亮
张小川
张洪伟
机构
电子科技大学物理电子学院
中国空间技术研究院
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012年第1期59-63,67,共6页
基金
中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(No.ZYGX2009J041)
文摘
宇航元器件极限评估是一种新的可靠性评价技术,其目的是评价电子元器件的极限能力,以适应航天对电子元器件的高可靠性要求。介绍了极限评估和极限评估试验,提出了极限评估试验剖面设计的一般原则,给出了试验剖面设计的典型方法,并以微波固态功放的温度应力极限评估试验和GaAs单片微波集成电路的电压应力极限评估试验作为典型样例设计了试验剖面,通过试验验证了剖面的有效性,最后总结了极限评估试验剖面设计中应当注意的一些事项。
关键词
可靠性
极限评估
剖面
温度应力
电压应力
Keywords
reliability
limit assessment
screen
temperature stress
voltage stress
分类号
V240.2 [航空宇航科学与技术—飞行器设计]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
宇航元器件极限评估试验剖面设计
毋俊玱
董宇亮
张小川
张洪伟
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
北大核心
2012
7
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