低稀释比制样技术与多类型地质样品X射线荧光分析方法研究

研究制定了在X射线荧光光谱分析中适用于多类型地质样品的低稀释比制样技术。确定了用四硼酸锂和偏硼酸锂混合试剂作为熔剂 ,使用m样品∶m熔剂 =1∶3的稀释比制样 ,对 4种不同种类的地质材料进行了实验 ,并采用基本参数法和理论α系数法校正基体效应 。