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利用高频Plasma CVD在蓝宝石衬底上生长立方GaN缓冲层及其光学性质 被引量:5
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作者 修向前 野崎真次 +3 位作者 岛袋淳一 池上隆兴 王大志 汤洪高 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第2期182-186,共5页
研究了采用高频 Plasma CVD技术在较低温度下 (30 0— 40 0℃ )生长以 Ga N为基的 - 族氮化物的可行性 ,在蓝宝石衬底上生长了 Ga N缓冲层 .热处理后的光致发光谱和 X光衍射表明 ,生长的 Ga N缓冲层为立方相 ,带边峰位于 3.15 e V.在... 研究了采用高频 Plasma CVD技术在较低温度下 (30 0— 40 0℃ )生长以 Ga N为基的 - 族氮化物的可行性 ,在蓝宝石衬底上生长了 Ga N缓冲层 .热处理后的光致发光谱和 X光衍射表明 ,生长的 Ga N缓冲层为立方相 ,带边峰位于 3.15 e V.在作者实验的范围内 ,最优化的 TMGa流量为 0 .0 8sccm (TMAm=10 sccm时 ) ,XPS分析结果表明此时的 Ga/ N比为 1.0 3.这是第一次在高 / 比下得到立方 Ga N.相同条件下石英玻璃衬底上得到的立方 Ga N薄膜 ,黄光峰很弱 。 展开更多
关键词 生长 立方氮化钙 高频等离子体化学气相沉积 X射线光电子谱 蓝宝石衬底 光学性质
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