光调制反射谱用于研究MBE GaAs_(1-x)Sb_x/GaAs外延膜

本文讨论了量子阱的光调制反射谱(PR)线形,并采用光调制反射谱研究了MBE GaAs_(1-x)Sb_x/GaAs异质结、应变层量子阱。可见,用PR谱研究MBE外延膜具有一定的优越性。

MBE GaAs_(1-x)Sb_x的喇曼光谱

在比较宽的组份范围内首次报道了MBE GaAs_(1-x)Sb_x混晶的喇曼光谱。发现声子频移强烈地依赖于Sb的组份x,而光学声子的双模行为仅仅在x>0.15时才发现,用远红外傅里叶光谱已证实这一结果。类GaAs LO模的线形分析表明本文的GaAs_(1-x)Sb_x质量较好。用质量缺陷模型和渗流理论讨论实验结果,用团聚效应解释x>0.15时声子的双模行为并估算了平均团聚尺寸。理论与实验结果符合得很好。

MBE GaAs_(1-x)Sb_x/GaAs应变层量子阱的光调制反射光谱

本文采用光调制反射光谱技术研究了MBEGaAs_(1-x)Sb_x/GaAs应变层量子阱。通过实验分析和理论上对受应力作用后能带结构的估算,确认在这一系统中流体静压力作用引起的能带结构变化主要出现在导带上,同时也证实了GaAs_(1-x)Sb_x/GaAs应变层量子阱属于第Ⅱ型量子阱结构。实验结果与理论估算符合很好。