高分辨率电镜球差系数离焦量和分辨率的测定

高分辨率电镜球差系数离焦量和分辨率的测定陈文雄，张存，徐军，王启明，汪裕苹（北京大学电镜室，北京１００８７１）在一幅弱位相体的电子显微像中包含了物镜的球差系数、像散、离焦量和分辨率等重要信息。这些量在正空间中很难测量，但在频率空间中可以比较容易地测定...

分析卤化银微晶的EDS方法探讨

本文探讨了用Ｘ射线能谱仪（ＥＤＳ）分析卤化银微晶的空间分辨率和吸收修正问题。对ＳＥＭ－ＥＤＳ和ＳＴＥＭ－ＥＤＳ两种不同分析模式的空间分辨率进行计算，表明ＳＴＥＭ－ＥＤＳ是研究单个卤化银微晶内碘的含量及分布的有效方法。并对定量分析数据和吸收修正参数进行了讨论，结果证明微晶不同区域厚度的差异，对碘含量的定量测定的影响可以忽略。

卤化银微晶的含碘结构的测定

用超薄切片法及X-射线线扫描法研究了半个碘溴化银微晶中碘的成层分布,结果与预想的碘的分布相一致。横扫过薄样品的X-射线线扫描提供了一个比较准确的测定含有不同碘量成层结构的技术。这有助于我们改进碘溴化银乳剂的制备。文章还讨论了在该种工作条件下,X-射线源的空间分辨率和超薄切片的厚度。 利用这种方法,把一种商用多层彩色片做超薄切片,用X-射线线扫描法直接对超薄切片中卤化银微晶的断面扫描,得到了各个轧剂层中的卤化银微晶的含碘结构。

用电镜对CoCr垂直磁化薄膜观察磁畴随温度的变化及居里点检测(英文)

本文研究了CoCr垂直磁化薄膜的磁畴随温度的变化。垂直磁化点畴变化为面内磁化羽状畴的转变温度在升温过程中为350℃。本实验测得CoCr膜的居里点T_c约在600℃附近。本文也分析了H_k或K_u随温度的变化要比M随温度的变化更快。这支持了垂直磁各向异性根源主要来自磁晶各向异性。显微照片也显示了自发磁化点畴的尺寸要比膜表面晶粒或膜断面晶柱的尺寸都要大,并都处在单畴状态。

成分对CoCr薄膜磁畴影响的研究(英文)

对Cr含量为0-23 at％的不同成分系列的CoCr合金薄膜磁畴的研究表明,随着Cr成分增多时其磁各向异性和相关的磁畴结构都敏感地变化。当Cr含量少于17at％时,面内磁化强度为主,并有多种结构形式。超过Cr含量11.2 at％后,少量的垂直磁化强度点畴出现,并随Cr含量增多而增多。Cr含量在17-23 at％的范围内可获得垂直磁各向异性为主的CoCr膜,也可能得到用于高密度垂直磁记录的优良薄膜磁性能。显微照片显示了点畴的尺寸比膜表面的晶粒的或膜断面的晶柱的尺寸都大些。因此,可以得出结论,即其一个自发磁化强度点畴是由一束晶柱或长成的晶粒组成,并都处在单畴状态。