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利用MFM研究薄膜厚度对Co_(60)Fe_(20)B_(20)薄膜磁畴结构的影响 被引量:1
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作者 沈博侃 王志红 +1 位作者 钟智勇 曾慧中 《电子显微学报》 CAS CSCD 2006年第3期200-203,共4页
本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm^400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜... 本文利用磁力显微镜(MFM)主要研究了由磁控溅射法制备的Co60Fe20B20软磁薄膜的厚度变化(2.5nm^400nm)对薄膜磁畴结构的影响。在室温下观察到垂直各向异性随薄膜厚度的增大而增大。从薄膜的表面形貌像观察到在溅射过程中薄膜温度随薄膜厚度增大而升高。当薄膜厚度小于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而增大;当薄膜厚度大于20nm时,磁畴尺寸随薄膜厚度的增大而减小;厚度在20nm附近时,畴壁尺寸达到一个最小值。 展开更多
关键词 磁畴 Co60Fe20 B20软磁薄膜 薄膜厚度 垂直各向异性
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TbFe磁性薄膜的磁力显微镜成像研究
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作者 王志红 周宇 +1 位作者 沈博侃 陈琨 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第A03期1266-1267,共2页
利用磁力显微镜(MFM)对TbFe磁性薄膜进行了不同抬举距离(分别为60~780nm)的磁力成像研究.在实验中,比较了低抬举距离(100nm以下)磁力像中样品-针尖的互相干扰;同时发现在高抬举距离磁力像中,随着抬举距离的增大,出现了与高... 利用磁力显微镜(MFM)对TbFe磁性薄膜进行了不同抬举距离(分别为60~780nm)的磁力成像研究.在实验中,比较了低抬举距离(100nm以下)磁力像中样品-针尖的互相干扰;同时发现在高抬举距离磁力像中,随着抬举距离的增大,出现了与高凸起形貌对应的图像衬度特征,并随抬举距离的变化也改变着位置与强度,一直到抬举距离为仪器的极限值780nm时,形貌干扰仍未消失,对其形成机制进行了分析. 展开更多
关键词 TbFe薄膜 磁力显微镜 抬举距离
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张应力对FeCoSiB非晶薄膜磁特性的影响 被引量:1
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作者 谢巧英 张万里 +2 位作者 蒋洪川 沈博侃 彭斌 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第2期256-258,共3页
采用磁控溅射方法,在弯曲的玻璃基片上制备出受张应力作用的FeCoSiB非晶薄膜,研究了张应力大小对FeCoSiB薄膜的磁畴、矫顽力、剩磁、各向异性场等磁特性的影响。结果表明,薄膜的畴结构显著依赖于张应力,其磁畴宽度随张应力增加而增加;... 采用磁控溅射方法,在弯曲的玻璃基片上制备出受张应力作用的FeCoSiB非晶薄膜,研究了张应力大小对FeCoSiB薄膜的磁畴、矫顽力、剩磁、各向异性场等磁特性的影响。结果表明,薄膜的畴结构显著依赖于张应力,其磁畴宽度随张应力增加而增加;张应力导致FeCoSiB薄膜内形成较强的磁各向异性,其各向异性随应力的增大而增大。 展开更多
关键词 FeCoSiB非晶薄膜 应力 磁各向异性 磁畴 矫顽力
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一种应用于无线通信系统的MIMO天线 被引量:1
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作者 祝光源 沈博侃 +1 位作者 陈罡 杨柏钟 《现代电子技术》 2012年第22期81-83,共3页
MIMO系统是通过不同的分集技术,以实现在相同带宽和发射功率的条件下大幅改善系统容量和可靠性,减小信道失真。作为系统关键模块之一的天线,则要求有着好的分集特性,并接收较多的达波。这里提出的MIMO天线工作在2.4GHz,天线单元是等边... MIMO系统是通过不同的分集技术,以实现在相同带宽和发射功率的条件下大幅改善系统容量和可靠性,减小信道失真。作为系统关键模块之一的天线,则要求有着好的分集特性,并接收较多的达波。这里提出的MIMO天线工作在2.4GHz,天线单元是等边三角形贴片天线。三角形天线的宽波瓣可以使MIMO天线接收更丰富的多径达波,与天线单元的高增益相结合能较好改善MIMO系统的SNR和抗干扰能力。通过对天线端口间的互耦和相关性分析,该系统能实现好的极化和方向图分集,获得高的分集增益。 展开更多
关键词 MIMO 互耦 相关性系数 三角形贴片天线 分集
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MFM Study:the Air Damping Effect on Magnetic Imaging of CoNbZr Thin Film
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作者 王志红 陈琨 +1 位作者 周宇 沈博侃 《Journal of Electronic Science and Technology of China》 2007年第1期50-52,共3页
This paper studies the CoNbZr soft magnetic thin film by magnetic force microscopy (MFM). By measuring in atmosphere circumstance, the magnetic force images display some clear dark dots which are corresponding to th... This paper studies the CoNbZr soft magnetic thin film by magnetic force microscopy (MFM). By measuring in atmosphere circumstance, the magnetic force images display some clear dark dots which are corresponding to the clusters in the topography images welL Then the dark dots disappear in magnetic force images, scanning in high vacuum. This indicates that the dark dots are caused by air damping between the vibrating tip and the sample. An interpretation for the above observation is given. 展开更多
关键词 air damping effect magnetic force microscopy TOPOGRAPHY magnetichnaging
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