基于粉末散射测量平板型光学元件的折射率

利用被测平板玻璃表面的粉末散射激光束,前表面形成各个方向的散射光和平板玻璃后表面的反射光形成等倾干涉,可计算出被测光学元件的折射率.分析了粉末颗粒大小、被测平板厚度、平板与观察屏的距离、相机分辨率对测量的影响.实验结果表明:采用颗粒较小的粉末易获得质量高的干涉图像,测量光路中设置平板与观察屏的距离为700~1200 mm,且平板厚度在0.5~2.0 mm范围内,折射率的测量精确度较高.