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平面薄膜结构找形及张紧结构数值对比分析
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作者 王旭飞 张静 +1 位作者 沈酉庆 寇子明 《实验室研究与探索》 CAS 北大核心 2021年第10期50-54,85,共6页
针对平面薄膜结构张拉成形后的初始形态问题,采用二次找形法对不同张紧形式下膜面尺寸为1 m×1 m的平面薄膜结构进行了找形分析。基于ABAQUS软件分析了一级张紧结构中膜面预应力、跨数以及薄膜厚度对膜面基频、有效面积率和应力分... 针对平面薄膜结构张拉成形后的初始形态问题,采用二次找形法对不同张紧形式下膜面尺寸为1 m×1 m的平面薄膜结构进行了找形分析。基于ABAQUS软件分析了一级张紧结构中膜面预应力、跨数以及薄膜厚度对膜面基频、有效面积率和应力分布均匀度的影响。将含中间索的二级张紧结构的找形结果与一级张紧结构进行了对比分析。结果表明,随着跨数的增多,膜面性能得到改善。由于膜面预应力对膜面性能指标的影响规律较为复杂,因此选取膜面预应力时需综合权衡。当膜面预应力相同时,二级张紧结构中的膜面基频、有效面积率与应力分布均匀度均低于一级张紧结构。 展开更多
关键词 二次找形法 张紧结构 基频 有效面积率 应力分布均匀度
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