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AlN /GaN分布布拉格反射器反射率的研究
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作者 洪灵愿 刘宝林 《集美大学学报(自然科学版)》 CAS 2005年第2期164-168,共5页
从理论上推导出分布布拉格反射器(DBR)反射率的计算公式,分析了GaN基材料DBR反射率与单层膜折射率、多层膜的对数、单层膜的厚度等的关系,发现20对AlN/GaN构成的1/4波长DBR的反射率在中心波长410nm下达到了0.9995,分析了DBR反射率随单... 从理论上推导出分布布拉格反射器(DBR)反射率的计算公式,分析了GaN基材料DBR反射率与单层膜折射率、多层膜的对数、单层膜的厚度等的关系,发现20对AlN/GaN构成的1/4波长DBR的反射率在中心波长410nm下达到了0.9995,分析了DBR反射率随单层厚度波动的影响,并发现随着正偏差的增大,最大反射率对应的波长增大.相同对数AlN/GaN多层膜的反射率比AlGaN/GaN多层膜的反射率大,因此,AlN/GaN比AlGaN/GaN更适合做反射器. 展开更多
关键词 分布布拉格反射器(DBR) 反射率 GAN ALN MGaN
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AlInGaN/GaN PIN紫外光电探测器的研制 被引量:2
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作者 黄瑾 洪灵愿 +1 位作者 刘宝林 张保平 《半导体光电》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第5期669-672,708,共5页
用AlInGaN四元合金代替AlGaN作为PIN探测器的有源层,研制出AlInGaNPIN紫外探测器。详细介绍了该器件的结构设计和制作工艺,并对器件进行了光电性能测试。测试结果表明,器件的正向开启电压约为1.5 V,反向击穿电压大于40 V;室温-5 V偏压下... 用AlInGaN四元合金代替AlGaN作为PIN探测器的有源层,研制出AlInGaNPIN紫外探测器。详细介绍了该器件的结构设计和制作工艺,并对器件进行了光电性能测试。测试结果表明,器件的正向开启电压约为1.5 V,反向击穿电压大于40 V;室温-5 V偏压下,暗电流为33 pA,350 nm处峰值响应度为0.163 A/W,量子效率为58%。 展开更多
关键词 AlInGaN/GaN PIN光电探测器 紫外光电探测器
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