SOC设计中的硬核复用及其工艺移植

IP复用已成为SOC(system-on-chip)芯片设计的主要手段之一。以一款0·18μm工艺下的温度控制芯片设计为例,具体介绍硬核复用设计的工艺移植问题,并给出了一种基于工艺设计工具包的设计流程及其关键技术解决方案。该设计流程在保证电路功能正确性的同时,又可以减少版图设计的设计周期,可以为其他类似硬核的复用设计提供参考。

基于UVM实现随机测试的先进方法

随机设计越来越复杂，受约束的随机化测试方法已成为验证的发展趋势。本文以数据流交叉模块的验证为例，介绍如何基于UVM验证方法学构建受约束的随机化测试平台，其主要内容包括：UVM验证平台的建立、受约束的随机的实现、功能覆盖率的实现、自动检查结构等方面。