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下一代开放式架构测试解决方案
1
作者
魏炜
浜岛明
《中国集成电路》
2008年第3期76-80,共5页
近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案——T2...
近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案——T2000 SoC测试系统。
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关键词
开放式架构
T2000
模块
IC测试系统
SOC测试
集成电路
下载PDF
职称材料
题名
下一代开放式架构测试解决方案
1
作者
魏炜
浜岛明
机构
爱德万测试(苏州)有限公司
出处
《中国集成电路》
2008年第3期76-80,共5页
文摘
近来随着IC市场的多样化发展趋势,对能够覆盖各种专业测试功能的IC测试系统要求也日益迫切,同样如何降低测试成本也是至关重要。为了适应相应的需求,解决面对的问题,爱德万测试公司(ADVANTEST)推出了下一代开放式架构测试解决方案——T2000 SoC测试系统。
关键词
开放式架构
T2000
模块
IC测试系统
SOC测试
集成电路
Keywords
OPENSTAR, T2000, Module
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
下一代开放式架构测试解决方案
魏炜
浜岛明
《中国集成电路》
2008
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