MCU电磁干扰失效分析与软硬件解决方法

介绍了一个在电磁干扰下的MCU失效案例,通过展示一步步的调试分析以及完成多个对比论证实验,在最终寻求到多种解决方案的同时,也深入体验到不同厂家芯片间的差距。文中对Flash等待周期的影响进行了探讨与论述,由于各厂家在其用户手册都未对此做过多的原理与作用上的阐述,很多用户一知半解、生搬硬套,然而这个概念在各种干扰场景下的理解与使用却有着非常重要的作用。

微控制器内置ADC的精度评测系统

现在MCU内部基本都集成了ADC,精度也越来越高,但对ADC精度要求较高的客户来说,想要准确评测一款MCU芯片的ADC精度还需要搭建一个精密测量系统。本文重点介绍了一种基于软硬件实现的自动化测量系统,不但能实现ADC精度测量,还可以在测量完成后对ADC关键误差参数进行快速运算,从而实现ADC精度的快速、准确评测。