-
题名GaN异质外延中的侧向生长技术
- 1
-
-
作者
温连健
尚宗峰
吴慈刚
-
机构
中国电子科技集团公司第十三研究所
中国石油化工集团公司中原油田
-
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2015年第7期536-541,553,共7页
-
文摘
以GaN为代表的Ⅲ族氮化物在微电子、光电子和传感器等领域均发挥了重要作用。但是由于大尺寸的单晶GaN衬底仍无法实现,目前绝大多数氮化物材料都是通过异质外延的方式来实现,外延材料和异质衬底之间巨大的晶格失配和热失配是导致GaN外延层中位错密度较高的主要原因。侧向生长(ELOG)技术是GaN异质外延中降低位错密度的一种有效方法,总结了该项技术的特点,并对单步ELOG技术、双步ELOG技术、悬空ELOG技术以及无掩膜ELOG技术等多种技术趋势进行了总结。ELOG技术可以有效降低位错密度,但是仍需降低工艺复杂性和减少沾污。
-
关键词
氮化物
异质外延
掩膜
位错
侧向生长(ELOG)技术
-
Keywords
nitride
heteroepitaxy
mask
threading dislocation
epitaxial lateral overgrowth(ELOG) technology
-
分类号
TN304.055
[电子电信—物理电子学]
TN304.22
[电子电信—物理电子学]
-
-
题名高集成多路低相噪点频源设计
- 2
-
-
作者
董强
温连健
-
机构
中电
-
出处
《电子制作》
2024年第17期50-53,共4页
-
文摘
针对目前电子设备对多路低相噪点频源的小型化需求,通过对几种方案进行对比分析选定最佳方案。对输出功率、相位噪声、杂散抑制、谐波抑制、相位一致性等关键指标的实现方式进行阐述,利用仿真软件对关键电路局部仿真。最终通过实物测试,验证了方案的可行性。
-
关键词
相位噪声
杂散
相位一致性
-
分类号
TN602
[电子电信—电路与系统]
-