中子成像的氢散射校正方法

中子成像可无损地探测样品内部的成份和结构等信息,已应用于诸多领域中材料的定量分析。中子成像对样品中的含氢物质进行定量分析时,由于氢的总散射截面大于吸收截面,散射中子会降低图像质量,严重干扰定量分析。已有的散射校正方法各自存在一定的局限性,或不适用所有样品、或增加曝光时间或数据处理复杂等。因此,本文提出了一种新的散射校正方法—双探测器法,并对水层样品进行实验验证。结果表明,校正后的水层厚度与实际厚度基本一致,验证了双探测器法是一种可行的散射校正方法。